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可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密Ｘ射線結構解析等各種分析。
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Ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。
可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密Ｘ射線結構解析等各種分析。
X射線發生部：2KW或3KW（CUP控制）
測角儀：θs/ θd聯動，θs、θd獨立
掃描范圍：-12°~164°（2θ），-6°~82°（θs）, -6°~132°（θd）
選配件：大型R-θ樣品臺，多毛細管平行光學系統
Ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。
可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密Ｘ射線結構解析等各種分析。
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| 配備具有0.0001°zui小步進的高精度樣品水平型測角儀。根據分析目的，可以選擇適合分析大型樣品的Ｌ型（zui大350mmφ樣品）和通用的S型。 |
· XRD-7000系列配備了樣品水平型測角儀，能夠測定超大型樣品。
· 不但可進行定性/定量等基本分析，還可以應用于殘留奧氏體定量、環境定量、晶格常數的精密化、結晶度的計算、晶體粒徑和晶格應力的計算、晶系確定、Rietveid結構解析軟件進行的晶體結構解析。通過追加附件，還可以應用于應力測定、樣品加熱過程的分析、薄膜樣品測定等。
· 利用新開發的大型R-θ樣品臺，可以進行zui大350mmφ樣品全表面的自動應力成圖測定。 | |
· 采用強大的多毛細管平行光束系統，可對應凹凸不同的樣品的分析，擴大應用范圍。
使用多毛細管平行光束系統的測定實例
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