高精度X射線晶體定向儀
廣泛用于晶體材料科研、教學、生產、加工、制造等行業。

高精度X射線晶體定向儀

技術特性： 一、用途：
DG-系列高精度X射線晶體定向儀利用X射線衍射原理，可精確、快速測定各種天然和人造單晶體（壓電晶體、光學晶體、激光晶體和各種半導體晶體等）晶面的衍射角度，廣泛用于晶體材料科研、教學、生產、加工、制造等行業。
二、特點：
1、操作簡單、靈活、實用。
2、角度采用數字顯示，觀察直觀，減少了讀數誤差。
3、顯示可預置任意角度，便于測試各種晶體材料。
4、雙測角儀可同時工作，提高了效率。
5、旋轉光閘系統，結構設計合理，有效避免了X射線對人體的危害，安全、環保、高效。
6、主機配備X射線單色系統，使整機具有精確的角度測定和*的分辨率。，

高精度X射線晶體定向儀
三、主要技術參數：
X射線管： 銅靶、陽極接地、風冷。
管電壓：30KVP
管電流：0~5mA（連續可調）
輸入電源容量：交流220V 3A 50Hz
探測器電壓：550-1200DCV
角度顯示：數字顯示
四、測角儀
θ軸宣傳角度范圍：-10°~ -60°
2θ軸旋轉角度范圍：-10°~ -60°
五、精度：15’’（用標準石英片1011）
角度顯示方式：數字顯示角度
角度顯示精度：10’’
精度：15’’
用途：高精度測試晶體片