產品特征：MarSurfM400.較好的移動設備測量室以及生產領域都越來越需要無導塊掃描的表面評估
MarSurf M 400.較好的移動設備
測量室以及生產領域都越來越需要無導塊掃描的表面評估。
這通常需要更熟練的操作員，更多時間和更多調整工作。
MarSurf M 400 在“移動表面度量”范圍內提供了必要的功能，而且快速、簡單易用。
移動和固定測量儀器
粗糙度和波紋度測量
掃描長度高達 26 mm
超過 50 R，W 和 P 表面參數
根據標準自動選擇截止和掃描長度
動態校準功能
驅動裝置和評估儀器之間可選有線和藍牙連接 (4 m)
磁性測頭支架（獨立測頭）BFW 250
機動測頭歸零設置（ 7.5 mm）
測量原則 | 探針法 |
輸入 | 感應式滑動測頭 |
測量范圍 mm | BFW 無導塊系統 |
輪廓分辨率 | 測量范圍 +/- 250 µm：8 nm 測量范圍 +/- 25 µm：0.8 nm |
過濾器符合 ISO/JIS 標準 | ISO 11562 標準高斯濾波 ISO 13565 標準濾波 |
采樣長度數量符合 ISO/JIS | 1-5 |
接觸速度 | 0,2 mm/s; 1,0 mm/s |
測量力 (N) | 0.75 mN |
重量驅動單元 | 約 0.9 kg |
重量測量儀 | 約 1.0 kg |
表面參數 | 超過 50 種符合當前 ISO / JIS 或 MOTIF (ISO 12085) 標準的表面參數可用于 R-、P- 和 W |
可選附件
測量立柱：ST-D、ST-F 和 ST-G，測量立柱上的支架
其他附件：CT 120 XY 工作臺，平行虎鉗，V 形塊，用于帶 BFW 測頭系統的測桿
*您想獲取產品的資料：
個人信息：
