美國Four Dimensions,Inc, 簡稱“4D”，成立于1978年，位于美國加州硅谷的Hayward, 4D公司專注于四探針設(shè)備和CV儀的生產(chǎn)和銷售，累計銷量達800臺以上，遍布世界各大半導(dǎo)體Fab, 太陽能光伏企業(yè)，大學及科研機構(gòu)。
美國Four Dimensions,Inc, 簡稱“4D”，成立于1978年，位于美國加州硅谷的Hayward, 4D公司專注于四探針設(shè)備和CV儀的生產(chǎn)和銷售，累計銷量達800臺以上，遍布世界各大半導(dǎo)體Fab, 太陽能光伏企業(yè)，大學及科研機構(gòu)。
美國4D公司的四探針/方塊電阻/電阻率測試設(shè)備：280SI （4D品牌中最普及的型號）
方形片：大至156mm X 156mm；
可往下擴展至：0.0001歐姆/平方，往上擴展至8e9或8e11歐姆/平方。相對應(yīng)的電阻率，薄膜厚度根據(jù)不同材料不同應(yīng)用而不同，但都是以方塊電阻作為基礎(chǔ)設(shè)備自動計算得出，注意這是選項價格要高不少，建議客戶按實際需求選擇購買。
測量方式： 電腦程序自動測量，或不連電腦單測量主機也可實現(xiàn)測量和數(shù)據(jù)顯示，此時非常適合測試不規(guī)整樣片單點測量，適合實際研究需要。
測量的數(shù)據(jù)： 方塊電阻/電阻率/薄膜厚度，根據(jù)具體應(yīng)用可以設(shè)置不同測量程序。
測量的點數(shù)： 程序編排任意測量點位置及測量點數(shù)量，對應(yīng)不同客戶不同測量要求任意編程測量點位置與數(shù)量。
測量的精確度：<0.1% （標準模阻）；
測量重復(fù)性：<0.2% （特定片子）；
測量速度：>45點/分鐘；
測量數(shù)據(jù)處理：根據(jù)需要顯示2D,3D數(shù)值圖，或按要求統(tǒng)計并輸出Excel格式文件；
邊緣修正：具有邊緣修正功能，即片子邊緣3mm以內(nèi)區(qū)域都能測量；
探針材料：鎢鋼與硅片的接觸電阻最小，且耐磨。另外每跟針的軸套采用非常耐磨藍寶石材料，以確保長時間使用后間距的一致性；
探針壓力可調(diào)范圍：90-200克之間可調(diào)；
可供選擇的探頭類型：根據(jù)測試不同工藝要求有A, B,K, M, N等相關(guān)型號探頭選擇，另外還可提供專門為客戶定制的應(yīng)用特殊要求的探針，比如測試薄至30A的薄膜時需要使用MR型探頭，這是四探針設(shè)備供應(yīng)商少有能做到的。
設(shè)備應(yīng)用：
IC FAB/FP dispaly/LED：擴散，離子注入等摻雜工藝監(jiān)控調(diào)試，薄膜電阻率或厚度測量等工序，如Intel，IBM，Motorola，TSMC，CSMC,Applied Materials,Sematech,Linear Technology,Tokyo Electronics,Materials Research,RF Monolithics,Linear Technology,Perkin-Elmer Optoelectronics,Candescent Technology,Hewlett-Packard,SHE America/Japan/Europe,Flip Chip,Delco Electronics,Lite-On Power,Goldstar,Korea Electronics,Posco Huls,SGS-Thomson,CarborundumCodeon,TRW Space&Electronics,Dynamic Research,EKC Technology,Hughes Aircraft,International Rectifier,LG Display,Semitech,Winbond,RF Monolithic,Osram...
材料類研究：杜邦（中國），電力，中科院，山東，清華大學，北京大學，復(fù)旦大學，華師大，電子科大，國家標準化所，質(zhì)檢所，光伏科學與技術(shù)國家重點實驗室,Applied Materials, Materials Research...
新能源：尚德，晶澳，英利，阿特斯，天合，LDK，海潤，騰暉，鑫輝，東磁，向日葵，奧特斯維，尖山，晶科，力諾，韓華，神舟，光為，艾力克，吉陽，東營，中盛，F(xiàn)irst solar,Solar world...
4D公司所提供的探針質(zhì)保次數(shù)是25萬次，而實際從客戶反饋的信息是壽命達到100萬次以上，甚至150萬次以上。同時4D還為客戶提供探頭的探針更換服務(wù)，大大降低客戶的使用成本。
