MIRA 超大試樣室掃描電子顯微鏡(LC-SEM),是目前世界上zui大的掃描電鏡,同時裝備多種不同的探測設備(背散射電子成像、EDS、EBSD、FIB、FT-IR)來滿足各種需求。不僅可以檢查大型零部件的物理特性,還可以評價原材料的化學和結晶體特性。幾乎對任何樣本都可實現非常準確的,直到在分子層面的一站式檢查和分析。
MIRA 超大試樣室掃描電子顯微鏡 (LC-SEM)
LC-SEM試樣室有 3 m3、9 m3、12 m3 三種型號,可觀察zui大試樣尺寸:直徑1500毫米、高度1500毫米。真空系統裝配有強大的三個真空泵:旋片和轉子泵應用于低真空,渦輪增壓泵應用于高真空,可實現 10 -6 mbar的高真空。該系統有足夠的能力,除去腔室中試樣的氣體,在45分鐘內便可以實現所需的真空度。腔室設置有多層墻體保證了不受任何外部磁場的影響。 |
應用行業
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LC-SEM 技術規格參數
LC-SEM用戶
德國不來梅大學 Universität Bremen
德國漢諾威大學 Umiversitat Hannover
德國亞琛工業大學 RWTH Aachen University
德國埃爾蘭根—紐倫堡大學 Friedrich-Alexanqder-Universität Erlangen-Nûrnberg
德國多特蒙德工業大學 TU Dortmund
德國不倫瑞克工業大學 Technische Universität Braunschweig
日本宇宙航空研究開發機構(JAXA)
美國NOVA無損檢測中心 設在西肯塔基大學 Nondestructive Analysis (NOVA) Center美國能源部國家核安全管理局的機構 Y-12 National Security Complex
美國*裝備部 延克*基地材料實驗室 Tinker AFB Materials Laboratory
電子光學 | |
分辨率 | 優于10納米 |
放大倍數 | 10x – 300,000x |
加速電壓 | 0.2 – 30keV |
探測器 | 二次反射通道倍增電子探測器 四象限背散射電子探測器 |
分析能力 | 能量色散X射線光譜儀(EDS) |
| 電子背散射衍射(EBSD) |
附加功能 | 聚焦離子束(FIB) |
| 傅立葉變換紅外光譜儀(FT - IR) |
| 內部攝像系統 |
圖像處理 | |
軟件 | MIRA控制系統 |
硬件 | 個人電腦,顯示器和打印機 |
真空系統 | |
低真空泵 | 旋片泵,65立方米/ h |
| 旋轉式轉子泵,400立方米/小時 |
高真空泵 | 渦輪泵2400升/秒 |
極限真空 | 直至45分鐘后10-6毫巴 |
真空室 | 3 m3; 9 m3; 12 m3 |
標本 | |
zui大尺寸 | 高達直徑1500毫米,高度1500毫米 |
zui大質量 | 300 kg, |
定位系統 | |
軸 | 5 +1微步控制軸系統 |
重復精度 | ±50 μm |
定位范圍 | |
X-軸 | 600mm, 1000mm, 1500mm |
Z-軸 | 600mm, 1000mm, 1500mm |
A-軸 | 90° |
B-軸 | 135° |
C-軸 | 360° |
D-軸 | 350° |
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