奧林巴斯GX53倒置顯微鏡使用范圍非常廣，常見于鋼鐵、汽車、電子及其它制造行業(yè)。僅僅將打磨后的金屬及截面試樣倒置于顯微鏡鏡臺上，用戶就可對試樣進行檢驗。樣本不需要放平，也可以觀察較厚、較大、較重樣品。
奧林巴斯GX53給出的清晰圖像，采用傳統(tǒng)顯微鏡觀察方法則難以捕捉到。與 OLYMPUS 流圖像分析軟件相結(jié)合，顯微鏡簡化了從觀察到圖像分析和報告的檢驗過程。
的分析工具。
奧林巴斯GX53顯微鏡的各種觀察性能提供清晰的圖像，所以用戶可對試樣進行可靠的缺陷檢測。OLYMPUS圖像分析軟件的新型照明技術(shù)和圖像采集選項為用戶評估試樣和記錄檢驗結(jié)果提供了更多的選擇。
不可見變?yōu)榭梢姡夯旌霞夹g(shù)
通過將暗視野及其它觀察方法如明視野或偏光結(jié)合起來，混合技術(shù)可以生成的觀察圖像。混合技術(shù)可使用戶觀察到使用傳統(tǒng)顯微鏡難以看到的試樣，甚至展示出試樣表面上的更小高度差。用于暗視野觀察的圓形 LED 照明器有一個定向暗視野功能，可以在給定時間內(nèi)照明一個或多個象限。這就減少了試樣的暈光，并有助于將其表面紋理可視化。
強調(diào)用戶舒適度的設(shè)計
顯微鏡的人體工學(xué)設(shè)計使得用戶的工作體驗更佳舒適，以進行更有效的檢查。當(dāng)與OLYMPUS stream軟件配合使用時，操作員可以輕松獲取不同試樣的圖像，進行各種分析，并生成專業(yè)報告。
輕松切換觀察方法
顯微鏡支持明視野、暗視野、鑒別干涉對比（DIC）以及簡單的偏振光觀察。
使用專用操縱桿在明視野和暗視野之間快速切換。
增加 DIC僅需要增加一個滑塊。
豐富配件選擇
濾光片將試樣曝光光線轉(zhuǎn)化為各種類型的照明。根據(jù)您的觀察需求選擇合適的濾光片。
顯微組織中的晶粒尺寸測量晶粒尺寸和分析鋁、鐵素體和奧氏體等鋼的晶體結(jié)構(gòu)以及其他金屬的顯微組織。支持標準：ISO, GOST, ASTM, DIN, JIS, GB/T鐵素體晶粒的顯微組織
晶粒度截線法解決方案 第二相的晶粒度面積法解決方案
顆粒分析 – 計數(shù)和測量解決方案
計數(shù)和測量解決方案使用高級閾值法，能夠可靠地分離目標（如顆粒和劃痕）與背景。可使用超過50種不同的參數(shù)對樣品進行測量或評級，包括形狀、大小、位置和像素特性等。
常規(guī)軟件晶界不清晰
侵蝕后 的鋼的顯微組織（原始圖像）
奧林巴斯Stream晶界清晰可辨
評估石墨球化率評估鑄鐵樣品（球墨/蠕墨）的石墨球化率及含量。對石墨節(jié)點的形態(tài)、分布和大小歸類。支持標準：ISO、NF、ASTM、KS、JIS、GB/T顯示球狀石墨結(jié)構(gòu)的延性鑄鐵
鑄鐵解決方案
解決方案 | 支持標準 |
截點法晶粒度 | ISO 643: 2012, JIS G 0551: 2013, JIS G 0552: 1998, ASTM E112: 2013, DIN 50601: 1985, GOST 5639: 1982, GB/T 6394: 2002 |
面積法晶粒度 | ISO 643: 2012, JIS G 0551: 2013, JIS G 0552: 1998, ASTM E112: 2013, DIN 50601: 1985, GOST 5639: 1982, GB/T 6394: 2002 |
鑄鐵 | ISO 945-1: 2010, ISO 16112: 2017, JIS G 5502: 2001, JIS G 5505: 2013, ASTM A247: 16a, ASTM E2567: 16a, NF A04-197: 2004, GB/T 9441: 2009, KS D 4302: 2006 |
夾雜物視場 | ISO 4967 (方法 A): 2013, JIS G 0555 (方法 A): 2003, ASTM E45 (方法 A): 2013, EN 10247 (方法 P 和 M): 2007, DIN 50602 (方法 M): 1985, GB/T 10561 (方法 A): 2005, UNI 3244 (方法 M): 1980 |
標準評級圖對比 | ISO 643: 1983, ISO 643: 2012, ISO 945: 2008, ASTM E 112: 2004, EN 10247: 2007, DIN 50602: 1985, ISO 4505: 1978, SEP 1572: 1971, SEP 1520: 1998 |
涂層厚度 | EN 1071: 2002, VDI 3824: 2001
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