電子電器此處是電子器件端子上附著異物的分析例

電子電器

此處是電子器件端子上附著異物的分析例。利用大視野相機，觀察器件整體，決定對哪個部位進行測量。對薄的污漬或小的外來異物，反射方法譜圖質(zhì)量不好時，可以考慮使用Ge晶體的顯微ATR測量。

機械和運輸

此處是長期暴露在日光下的樹脂部件分析例。通過對部件截面紅外光譜的測量，深度方向上的降解程度實現(xiàn)了可視化。

制藥和生命科學(xué)

此處是附著在藥片表面異物的分析例。通過挑入金剛石池中進行擠壓，可以對不同形狀的樣品進行顯微透射測量。

石油化工

此處是薄膜偏振分析的例子。利用紅外偏振片，可以評估薄膜的偏振特性和取向。