溫度循環TC試驗又名高低溫沖擊試驗是半導體元器件元器件行業的測試設備
溫度循環 TC試驗又名高低溫沖擊試驗是半導體元器件元器件行業的測試設備。在瞬間下經溫及極低溫的連續環境下忍受的程度，得以在最短時間內檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害，用于考核器件在短期內反復承受溫度變化（循環流動的空氣）的能力及不同膨脹系數材料之間的熱匹配性能。
滿足標準：
GB/T 4937-1995 第Ⅲ篇 1.1
GB/T 2423.22-2012 7
主要技術參數：
| 設計和技術參數(TCT系列） | ||||||||||
| 型號 | LS-TCT-401 | LS-TCT-402 | LS-TCT-403 | LS-TCT-501 | LS-TCT-502 | LS-TCT-503 | LS-TCT-601 | LS-TCT-602 | LS-TCT-603 | |
| 箱體設計 | ||||||||||
| 提籃容積（升） | 27 | 64 | 125 | 27 | 64 | 125 | 27 | 64 | 125 | |
| 試驗箱內箱容積尺寸 （mm） | 寬（W) | 300 | 400 | 500 | 300 | 400 | 500 | 300 | 400 | 500 |
| 高（H) | 300 | 400 | 500 | 300 | 400 | 500 | 300 | 400 | 500 | |
| 深（T) | 300 | 400 | 500 | 300 | 400 | 500 | 300 | 400 | 500 | |
| 試驗箱外箱尺寸 （mm） | 寬（W) | 1180 | 1280 | 1380 | 1180 | 1280 | 1380 | 1180 | 1280 | 1380 |
| 高（H) | 1850 | 1950 | 2050 | 1850 | 1950 | 2050 | 1850 | 1950 | 2050 | |
| 深（T) | 180 | 190 | 2000 | 180 | 190 | 2000 | 180 | 190 | 2000 | |
| 溫度試驗參數 | ||||||||||
| 溫度范圍 熱箱 | ℃ | +80~200 | +80~200 | +80~200 | ||||||
| 溫度范圍 冷箱 | ℃ | -10~-60 | -20~-70 | -30~-80 | ||||||
| 測試溫度范圍 | ℃ | -40~+150 | -55~+150 | -65~+150 | ||||||
| 溫度波動度 | ℃ | ±0.5~1.0 | ||||||||
| 溫度均勻度 | ℃ | ±0.5~2.0 | ||||||||
| 升溫平均速率1 | ℃/min | 3~5 | ||||||||
| 降溫平均速率2 | ℃/min | 1 | ||||||||
| 熱箱冷箱轉換時間 | sec | ＜10 | ||||||||
| 恢復時間 | min | ＜15 | ||||||||
| 校準值 熱箱1 | ℃ | 125 | 125 | 150 | ||||||
| 校準值 冷箱2 | ℃ | -40 | -55 | -65 | ||||||
| 冷卻方式 | 水冷或風冷 | |||||||||
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