CMI900 X射線熒光鍍層測厚儀介紹：

CMI900熒光X射線鍍層測厚儀，有著非破壞，非接觸，快速無損測量，多層合金測量，高生產力，高再現性等優點的情況下進行表面鍍層厚度的測量，從質量管理到成本節約有著廣泛的應用。

CMI900 X射線熒光鍍層測厚儀適用范圍：

用于電子元器件，半導體，PCB，FPC，LED支架，汽車零部件，功能性電鍍，裝飾件，連接器，端子，衛浴潔具，首飾飾品……多個行業表面鍍層厚度的測量；

測量鍍層，金屬涂層，薄膜的厚度或液體（鍍液的成分分析）組成。

CMI900 X射線熒光鍍層測厚儀主要特點：

測量范圍寬，可檢測元素范圍：Ti22–U92；

可同時測定5層/15種元素/共存元素較正；

精度高、穩定性好；

強大的數據統計、處理功能；

NIST認證的標準片；

服務及支持。