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磁體表面磁場分布測量儀是一種微機控制用于磁體表面磁場分布測量的儀器。多極磁波儀由機箱、樣品臺、測量探頭及支架、計算機組成。機箱中有提供被測樣品旋轉(zhuǎn)的步進電機和控制及測量電路，控制樣品的旋轉(zhuǎn)、測量信號采集處理及測控數(shù)據(jù)與計算機之間的通訊。
樣品臺用于夾持被測樣品。
測量探頭支架用于支撐和調(diào)整磁場測量探頭，使得探頭與被測樣品之間處于適合測量的位置。磁場測量探頭用于把被測樣品的表面磁場轉(zhuǎn)換為電信號。
計算機用于輸入被測樣品信息、控制測量過程進行、收集處理并顯示測量數(shù)據(jù)及存儲相關(guān)數(shù)據(jù)。
技術(shù)規(guī)格
磁場測量探頭：Hall探頭測量磁場；橫向探頭/軸向探頭選擇；磁場量程：4mT,40mT,400mT,4T
樣品定位夾具：無磁性且精度高的夾具，同心度精度高
X,Y,Z三方向移動范圍：X,Y,Z三坐標(biāo)垂直精度高；X,Y方向移動范圍：100mm；Z方向移動范圍：120mm；分辨能力：0.01mm
旋轉(zhuǎn)同心度：旋轉(zhuǎn)同心度高，經(jīng)過嚴(yán)格校準(zhǔn)
A/D采集：16Bit
旋轉(zhuǎn)測量分辨力：12000 點/360 o
測量軟件：Windows XP環(huán)境，測量數(shù)據(jù)可以EXCEL：形式保存在硬盤，可隨時查詢
測量報告：可以選擇X-Y座標(biāo)或極坐標(biāo)方式打印。
儀器供電：AC 220V, 50Hz, 15A

GG-AB阿貝折射儀檢定裝置

阿貝折射儀是利用全反射臨界角原理，測量透明、半透明液體或固體的折射率（nD）和平均色散（nF-nC）的儀器。
阿貝折射儀檢定裝置用于檢定阿貝折射儀或其它利用阿貝折射原理的計量儀器。
測量范圍：
阿貝折射儀檢定裝置的折射率測量范圍為1.47～1.68。
測量不確定度
阿貝折射儀標(biāo)準(zhǔn)塊的折射率測量不確定度：5×10-5（k=3）
阿貝折射儀標(biāo)準(zhǔn)塊的平均色散測量不確定度：7×10-5（k=3）
儀器組成：
阿貝折射儀檢定裝置由四種阿貝折射儀標(biāo)準(zhǔn)塊，三種折射液及一個鈉光燈和燈源組成。
四種阿貝折射儀標(biāo)準(zhǔn)塊均為長方形塊，分別由輕冕玻璃QK1，冕玻璃K9，火石玻璃F2，重火石玻璃ZF2四種.光學(xué)玻璃材料加工制成。