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SEM-Base®VI

用于SEM的主動式壓電陶瓷振動

消除地面式平臺

優(yōu)勢:

• 硬式裝載技術

SEM-Base VI兼容 SEM 內部預裝的任何隔振系統(tǒng)， 從 0.6Hz 開始主動強力消減地面低頻振動。

• 主動慣性振動消除

SEM-Base VI采用高靈敏度的低頻慣性速度傳感器，即使在安靜的地面上也可以達到高水平的振動衰減。

• 串行設計與壓電技術

*串行設計加上高強度壓電專li技術，SEM-Base VI不但達到了寬至0.6Hz-150Hz的主動帶寬，更實現(xiàn)了的慣性主動振動消除，2Hz以上的振動衰減可達90%以上。

• *集成式的單平臺設計

SEM-Base Vi設計與制造的集成化，將安裝平臺的工作簡化到了ji致，簡單的定位與設置之后即可正常工作。

注: 可選SEM-Closure，專門設計用于保護SEMs的完整環(huán)境解決方案。在SEM-Closure密封隔音室內可兼容放置SEM-Base VI與Mag-NetX，保護SEM免除振動、磁場擾動與聲波噪音的影響。

特點：

• STACIS專li技術
• 主動慣性振動消除系統(tǒng)
• 895×1124×160 mm（35.25×44.25×6.3 in.）適合絕大多數(shù)商業(yè)SEMs
• 負載能力：408-1134 kg（900-2500 lb.）     
• 隔振效率1Hz：40-70%

隔振效率2Hz：90%

隔振效率>3Hz：90-98%

• 6個主動自由度
• 安裝容易，調諧簡單
• 兼容所有設備內置的振動隔離系統(tǒng)
• 電源：100-240VAC，50/60Hz，<600W
• 是否需要空氣：非氣浮系統(tǒng)
• CE與RoHS認證
• *集成式的單平臺設計
• 可安裝腳輪，輕松便攜移動，無需搬運
• 兼容SEM-Lift系統(tǒng)

概述：

EM-Base VI是TMC STACIS主動壓電振動消除產品系列的新一代產品。SEM-Base VI設計用于承載所有商業(yè)掃描電子顯微鏡（SEMs）、多數(shù)聚焦離子束顯微鏡（FIB）及小型雙光束設備。SEM-Base VI可以提供升級版的振動隔離性能及更快更強勁的控制器，帶有高級圖形用戶界面（GUI）。SEM-Base VI讓越來越多的實驗室、工廠可以實現(xiàn)能夠滿足其關鍵設備所要求的地面振動水平。

SEM-Base VI采用*串聯(lián)結構，振動傳感器測量的是地面振動，不是負載振動。這樣就確保了負載諧振將不會限制平臺的振動隔離或者引起不穩(wěn)定性。振動傳感器采用低頻慣性速度傳感器，在測量亞Hz振動時具有大的敏感度。加上TMC*的壓電致動技術，SEM-Base VI即使在振動情況已經很好的地面上也可以實現(xiàn)超高水平的振動消除。

相比于之前的SEM-Base版本，SEM-Base VI的振動隔離能力平均來說增加了6dB，而且采用了TMC新一代控制器DC-2020，采用新式雙核處理器，為設備擁有者及研究者提供非常簡單易于使用的圖形用戶界面，可以快速進入系統(tǒng)并實現(xiàn)平和的操作心態(tài)。當通過Ethernet連接時，DC-2020在用戶的瀏覽器上即可實現(xiàn)SEM-Base圖形用戶界面，無需額外安裝軟件或者應用程序。當然用戶也可以通過控制器的板載式菜單驅動液晶屏（LCD）直接進行控制。

應用案例：

STACIS® ix SEM-Base 為如下SEM/FIB提供振動消除。FEI Helios NanoLab DualBeam SEM/FIB(左上)、 JEOL JSM-6700F掃描電鏡(右上)，日立S-3400N SEM(左下)、Field Emission掃描電子顯微鏡(右下)