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簡介：半導體粉末電阻率測試儀適用于有機、無機半導體粉末材料（包括納米級）的電阻率測量,也可以測量固體半導體材料，特別適合于太陽能多晶硅、硅粉質量的測量、分選和質量控制.電阻率值直接數字顯示由具有高精度加...

簡介：測量時，擰松繞線盤后面的止緊螺絲，讓繞線盤轉動自由后，按下電源按鈕(電源指示燈亮)，把測頭放入導管內，于拿鋼尺電纜，讓測頭緩慢地向下移動，當測頭接觸到土層是中的磁環時，接收系統的音響器便會發出連續...

簡介：產品概述：主要用途：在軍事應用領域中，常常需要測量以激光器為基礎的光電瞄具激光光束的束散角

簡介：梓夢科技動態光散射納米粒度和zeta電位儀原理當激光照射到分散于液體介質中的微小顆粒時，由于顆粒的布朗運動引起散射光的頻率偏移，導致散射光信號隨時間發生動態變化，該變化的大小與顆粒的布朗運動速度有...

簡介：粒度儀-顯微粒度分析儀ZML310可以用來測量顆粒粒度大小，形狀特征，粒徑分布，顆粒表面顏色等參數。產品由成像系統，轉接頭，數字攝像機，分析軟件和計算機等組成。工作原理是通過專用高分辨率數字攝像機...

簡介：設備名稱：膜過濾法顆粒計數器設備型號：ZMP930檢測原理：顯微計數法/靜態圖像法檢測范圍：1um-600um產品特點：全自動掃描檢測軟件符合各國法規要求執行標準：美國藥典USP787、USP78...

簡介：Bettersize2000激光粒度分析儀是一種采用雙鏡頭技術的一體化激光粒度儀。它的散射光發生與探測系統是由一個大功率光纖半導體激光器、樣品池、兩個高精度的進口透鏡組和兩組光電探測器陣列組成。

簡介：BT-9300ST激光粒度分析儀是一種小型化的、采用雙鏡頭技術的一體型激光粒度儀。它的雙鏡頭光學系統使前向和后向散射光信號都能被有效接收，擴大了測量范圍，提高了重復性和和準確性。同時，一體化的結構...

簡介：Bettersize2600E激光粒度分析儀，通過將較高成本的正、反傅里葉結合光學系統適當降低成本，將這種精度高的、測量范圍寬的粒度測試新技術用到經濟型干濕法激光粒度測試領域，做到價格“經濟”，性...

簡介：Bettersize3000激光圖像粒度粒形分析儀的激光散射系統為雙鏡頭斜入射光學系統，同時設一個大約15倍的成像系統用來查看粗顆粒（50μm）圖像和測量粒徑（D100）。