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簡介：SuperViewW1白光干涉三維光學輪廓儀分辨率0.1μm，重復性0.1%，應用領域廣泛，操作簡便，可自動聚焦測量工件獲取2D，3D表面粗糙度、輪廓等一百余項參數，適用于各種產品、部件和材料表面...

簡介：SuperViewW1中圖白光干涉儀采用的是非接觸式光學測量，在獲得實時數據的同時，不會對產品造成任何損傷，從而有效節約了生產成本，提高了生產效率，并且在線檢測，沒有滯后性，從而減少不合格品，對表...

簡介：TranSpecMicro薄膜厚度測量新的光纖耦合TranSpecMicro薄膜厚度顯微鏡可以將薄膜厚度測量點的大小降到50-100um。測量點的圖像可通過裝在顯微鏡上的特殊彩色相機實時查看。Tr...

簡介：薄膜表面或界面的反射光會與從基底的反射光相干涉，干涉的發生與膜厚及折光系數等有關，因此可通過計算得到薄膜的厚度。光干涉法是一種無損、精確且快速的光學薄膜厚度測量技術，我們的光反射薄膜厚度測量儀采用...

簡介：白光干涉測厚儀

簡介：光源：綠光，白光測量模式：VSI,PSI底臺：4”手動臺軟件：VISION

簡介：WykoNT9100系列采用了Veeco第九代光學輪廓探測技術，在0.1nm到10mm的垂直掃描范圍內提供了快速、高精度的三維表面形貌測量功能。NT9100光學輪廓儀是一款使用便利、性能，性價比高...

簡介：主要用途：粗糙和光滑表面的測量和顯示亞微米范圍內的微觀形貌測量金相測量非接觸式表面輪廓的計量

簡介：采用ACM600共焦顯微鏡可對物體的表面和結構進行非接觸式的測量，評估和顯示。裝配不同的顯微物鏡，測量視場大小和精度也不同。視場的擴展可通過釘合的方式來實現。

簡介：PR05/06白光干涉三維形貌儀是采用日本*的的白光干涉掃描技術研制的納米量級形貌測量儀器，透過精密的掃描系統和自主的解析算法，進行樣品表面微細形貌的量測與分析。表面顯微成像能力與高精度測量的*結...