數字式立式光學計儀器的主要用途 --- JDG-S2 是一般是用標準器（如量塊）以比較法測量工件的尺寸。主要用于對五等量塊，量棒，鋼球，線形及平行平面狀精密量具和零件的外形尺寸作精密測量，本儀器頭部亦可作為一個獨立體，在科研，生產過程控制及在線測量等方面。

數字式立式光學計 立式光學計

型號：GH/JDG-S2

數字式立式光學計儀器的主要用途 --- JDG-S2數字式立式光學計是一般是用標準器（如量塊）以比較法測量工件的尺寸。主要用于對五等量塊，量棒，鋼球，線形

及平行平面狀精密量具和零件的外形尺寸作精密測量，本儀器頭部亦可作為一個獨立體，在科研，生產過程控制及在線測量等方面，對

被測件作微小位移測量，及對非金屬如：薄膜、紙張等的厚度測量。

JDG-S2數字式立式光學計   主要技術指標:

     被測件zui大長度

 180mm

     測量范圍

 ≥±0.1mm

     zui小顯示值

 0.0001mm

     測量力

 (2 ± 0.2)N

     示值變動性

 0.0001mm

     zui大不確定度

 ±0.00025mm

     儀器體積

 300 ×170 × 410 mm

     儀器重量

  18㎏

讀數方式

 數字顯示

zui大測量誤差

±(0.5+L/100) μm L是被測長度,以mm計

標準配件

可調帶筋園臺

可調園平臺

帶筋固定方臺

平面測帽φ2　

平面測帽φ8

小球面測帽

刃形測帽

儀器的主要用途 ---  是一般是用標準器（如量塊）以比較法測量工件的尺寸。主要用于對五等量塊，量棒，鋼球，線形

及平行平面狀精密量具和零件的外形尺寸作精密測量，本儀器頭部亦可作為一個獨立體，在科研，生產過程控制及在線測量等方面，對

被測件作微小位移測量，及對非金屬如：薄膜、紙張等的厚度測量。

  主要技術指標:

     被測件zui大長度

 180mm

     測量范圍

 ≥±0.1mm

     zui小顯示值

 0.0001mm

     測量力

 (2 ± 0.2)N

     示值變動性

 0.0001mm

     zui大不確定度

 ±0.00025mm

     儀器體積

 300 ×170 × 410 mm

     儀器重量

  18㎏

讀數方式

 數字顯示

zui大測量誤差

±(0.5+L/100) μm L是被測長度,以mm計

標準配件

可調帶筋園臺

可調園平臺

帶筋固定方臺

平面測帽φ2　

平面測帽φ8

小球面測帽

刃形測帽