SediGraph III 5120全自動Χ光沉降粒度分析儀，新一代的粒度分析儀將成熟的SediGraph分析技術與先進的檢測儀器功能相結合，提供的重復性、準確性和重現性。 SediGraph III通過X射線吸收測量樣品質量，利用標準的沉降法測量粒度，無需建模。該產品的技術已成為造紙、陶瓷、磨料等數個行業的金色標準。

　　新一代的粒度分析儀將成熟的SediGraph分析技術與先進的檢測儀器功能相結合，提供的重復性、準確性和重現性。 SediGraph III通過X射線吸收測量樣品質量，利用標準的沉降法測量粒度，無需建模。該產品的技術已成為造紙、陶瓷、磨料等數個行業的金色標準。

                                  SediGraph^®Ⅲ Plus全自動X光沉降粒度分析儀

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久經考驗的技術和可靠性

       在過去的三十多年中，麥克儀器公司的SediGraph是*許多實驗室粒度分析的標準儀器。無論是在惡劣的生產環境還是在專業的化驗室，SediGraph憑借其的可靠性得出精確的測量結果。粒徑分布的測量采用沉降法，顆粒通過直接吸收X射線而被測量。根據Stockes定律，通過測量粒子在液體中的沉降速率，得出粒子粒徑大小，粒徑分析范圍為0.1~300μm。

智能設計特色

SediGraph III Plus 粒度分析儀先進的設計確保了測量的重復性和使用的便利性。使得儀器操作更加容易，日常維護更加簡單。并且能夠確保對同一樣品，在任意一臺SediGraph儀器上都能獲得重復性*的結果。

• 高精度X光管終身保修（7年）

• 簡化泵系統，確保快速分析和易于維護

• 降低噪聲，提供更加安靜的工作環境

• 維護提醒裝置，根據總測試量，提示用戶進行定期維護

• 電腦控制混合室溫度，提高測試可重復性

• Windows操作軟件，以太網連接，可進行點擊式選擇菜單，聯網工作，打印機選擇，剪切和粘貼等操作

• 多功能和交互式報告系統，能夠提供多種類型的報告，例如顆粒沉降速度和粒度（以Phi為單位）

多項功能