作為世界上zui強(qiáng)掃描探針顯微鏡控制器制造商，美國RHK公司推出了革命性的新一代掃描探針顯微鏡控制平臺R9：
> 它采用了全數(shù)字化的硬件系統(tǒng)，噪音極低，性能優(yōu)異
> 單獨的R9 SPM控制平臺可以實現(xiàn)所有的STM、AFM和KFM等功能
> IHDLTM軟件系統(tǒng)可以輕松實現(xiàn)對硬件和實驗過程的定義與編輯，其*的設(shè)計思路和開放性的軟/硬件配置為研究領(lǐng)域的拓展奠定了堅實的基礎(chǔ)

HDLTM軟件界面

R9掃描探針顯微鏡控制平臺采用了RHK*的IHDLTM圖像化硬件描述與編輯軟件，通過簡單的“拖放”操作，即可完成對硬件和實驗的所有設(shè)置。
同時IHDLTM全面兼容LabVIE和MATLAB，為實驗的設(shè)計提供了無限的可能。

特制的硬件系統(tǒng)

采用RHK特制的且優(yōu)化設(shè)計的硬件模塊，利用RHK UltraDAC技術(shù)以極低的噪音水平對所有的信號進(jìn)行數(shù)字化運算和處理。
硬件模塊包括：PLLs, lock-ins, filters, amplifiers, phase shifters, counters等。

強(qiáng)大而優(yōu)異的功能

將所有SPM的功能模式集中到一起，通過軟件即可快捷的對硬件系統(tǒng)進(jìn)行重新定義。
無需外界模塊和設(shè)備可實現(xiàn)包括STM、dI/dV隧道譜、接觸式&非接觸式AFM、導(dǎo)電AFM、開爾文探針顯微鏡KFM、SNOM等功能。
兼容所有商業(yè)化的STM/AFM系統(tǒng)，并實現(xiàn)對他們的全面控制。

> 支持所有的掃描探針顯微鏡操作模式，包括：STM、dI/dV譜、接觸式和導(dǎo)電式AFM、非接觸式AFM、開爾文探針KFM等。不需要添加任何外置設(shè)備；
> 支持音叉式和微懸臂式AFM；
> 支持所有非接觸式AFM模式 -- PLL、Lock-in、Self Oscillation。接觸式AFM模式 -- Constant Excitation、Constant Signal和Q-control等。采用全數(shù)字式Phase Shifter，保證了系統(tǒng)的穩(wěn)定性；；
> PLL和Multiple Lock-in通道一起使用，可以同時采集多個諧頻信號；
> SNOM：多個高速輸入通道可以同時對表面成像，并采集光學(xué)信號（模擬或脈沖計數(shù)）；
> KFM：無需添加任何外置的設(shè)備，即可完成KFM實驗；
> 全面兼容LabVIEW和MATLAB等語言與程序；