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Leica EM RES102徠卡多功能離子減薄儀

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徠卡多功能離子減薄儀Leica EM RES102 通過離子槍激發(fā)獲得離子束,以一定入射角度對樣品進行轟擊,以去除樣品表面原子,從而實現(xiàn)對樣品的離子束加工。Leica EM RES102主要功能為:對無機薄片樣品進行離子減薄,使得薄片樣品可被透射電子穿過,從而適宜TEM透射電子顯微鏡觀察;對無機塊狀樣品進行離子束拋光、離子束刻蝕,樣品表面離子清洗及斜坡切割,便于SEM掃描電子顯微鏡觀察樣品

詳細信息 在線詢價

徠卡多功能離子減薄儀 Leica EM RES102的優(yōu)勢

主要技術(shù)參數(shù):

· 具有2把離子槍,離子束能量為0.8keV-10keV,相對位置,可分別±45°傾斜,樣品臺傾斜角度-120°至 210°,離子束加工角度0°至90°,樣品

平面擺動角度<360°,垂直擺動距離±5mm。實際操作參數(shù)根據(jù)具體應(yīng)用需要選擇(系統(tǒng)備有參考參數(shù),也可自行設(shè)置參數(shù)并存儲)

· 可選配樣品臺:TEM樣品臺(?3.0mm或?2.3mm),F(xiàn)IB樣品清洗臺,SEM樣品臺,斜坡切割樣品臺(對樣品35°或90°斜坡切割)等

· SEM樣品臺可容納zui大樣品尺寸:直徑25mm,高度12mm

· 全無油真空系統(tǒng),樣品室?guī)в蓄A(yù)抽室,保證樣品交換時間<1分鐘

· 全電腦控制,觸摸屏操作界面,內(nèi)置視頻觀察系統(tǒng),可實時觀察樣品處理過程


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