電子半導體-顯微鏡不溶顆粒檢測儀，是普勒新世紀實驗按照普洛帝分析儀器事業部的規劃，于2001年推向市場的成熟系統儀器；符合中國藥典規范附錄0903不溶性微粒檢查法第二法（顯微計數法}。該系統為一種圖像法粒度分布測試以及顆粒型貌分析等多功能顆粒分析系統，該系統包括光學顯微鏡、數字 CCD 攝像頭、圖像處理與分析軟件、電腦、打印機等部分組成。

電子半導體-顯微鏡不溶顆粒檢測儀 -優勢：

測試軟件具有操作員管理系統、測試標準、零件測試模板、圖像存儲、顆粒追蹤、報告輸出、清潔度分析等功能；

全面自動標準選擇、顆粒尺寸設定、顆粒計數，或按用戶設定范圍計數，自動顯示分析結果，并按照相關標準確定產品等級；

將傳統的顯微測量方法與現代的圖像處理技術結合的產物；

專業軟件控制分析過程，手動對焦，手動光強（顆粒清潔度測試必須人為干預進行），自動掃描，自動攝入，自動分析；

數字攝像機將顯微鏡的圖像拍攝及掃描；全自動膜片掃描系統，無縫拼接，數字化顯微鏡分析系統；

R232接口數據傳輸方式將顆粒圖像傳輸到分析系統；

顆粒圖像分析軟件及平臺對圖像進行處理與分析；

顯示器及打印機輸出分析結果；

直觀、形象、準確、測試范圍寬以及自動識別、自動統計、自動標定等特點；

避免激光法的產品缺陷，擴展檢測范圍；

現實NAS、ISO等標準方法的認可；

提供“OIL17服務星”簽約式服務；

電子半導體-顯微鏡不溶顆粒檢測儀 -應用范圍：

電子半導體行業：CMP Slurry，石墨、芯片，晶圓加工等微粒檢測；

特殊化工行業：墨水&噴墨、納米材料、化工染料、潤滑劑、清洗劑、有機液等微粒檢測；

石化行業：航空、航天、電力、石油、化工、交通、港口、冶金、機械、汽車制造、制冷、電子、工程機械、液壓系統等領域；

其他行業：過濾產品，清潔度方面，食品飲料，化妝品等微粒檢測。

執行標準：

0.1~3000μm的超寬范圍、超高分辨率滿足510多個標準要求。

可根據客戶要求，植入相應“光阻法顆粒度”測試和評判標準。

技術參數：

訂制要求：各類液體檢測要求；

測試范圍: 1μm-500μm

放大倍數：40X～l000X倍

大分辨：0.1μm

顯微鏡誤差：0.02（不包含樣品制備因素造成的誤差）

重復性誤差：< 5%（不包含樣品制備因素造成的誤差）

數字攝像頭(CCD)：300萬像素

標尺刻度：0.1μm

分析項目：粒度分布、長徑比分布、圓形度分布等

自動分割速度：< 1秒

分割成功率：> 93%

軟件運行環境：Windows 2000、Windows XP

接口方式：RS232或USB方式

供貨期：30個工作日

精 確 度：<±3% 典型值；

重合精度：10000粒/mL（5%重合誤差）；

鑒定機構：國家西北計量測試中心（民品）

售后服務：普洛帝中國服務中心/普研檢測。