XDS近紅外在線分析儀——直射光/非接觸型是用于非直接接觸樣品實時分析的新一代在線分析儀。無損準確的檢測可在任何移動或可接近的產品上進行，比如傳送帶、傳送網帶或薄膜上。非接觸型反射檢測可提供深層的化學成分分析，無論樣品質地松散還是緊實，均勻或非均勻。非接觸型檢測可用于纖維狀、薄膜狀、多層疊加狀以及網狀樣品——如塑料、紙張或紡織品等樣品的質量控制。

XDS近紅外在線分析儀——直射光/非接觸型是用于非直接接觸樣品實時分析的新一代在線分析儀。無損準確的檢測可在任何移動或可接近的產品上進行，比如傳送帶、傳送網帶或薄膜上。非接觸型反射檢測可提供深層的化學成分分析，無論樣品質地松散還是緊實，均勻或非均勻。非接觸型檢測可用于纖維狀、薄膜狀、多層疊加 狀以及網狀樣品——如塑料、紙張或紡織品等樣品的質量控制。
檢測頭安裝在光纖的末端，由感應頭發出的高強度光穿透樣品，光與樣品作用后反射回感應頭，經收集光纖束傳送到儀器主機進行分光和信號檢測。XDS近紅外在線分析儀的設計堅固耐用，為儀器在惡劣工業環境下操作時其性能和分析結果的一致性和穩定性提供了一個新標準。

儀器特性及優勢
. 適用于移動樣品的無損原位近紅外檢測
. 直接在產品線上的反射檢測，無需直接接觸樣品
. 適用于傳送帶、 傳送網帶上的均勻或非均勻的樣品
. 波長范圍： 800-2200 nm
. 儀器符合 NEMA 4X/IP65，不銹鋼檢測頭符合 IP69K 保護等級