· 不但可進(jìn)行定性/定量等基本分析，還可以應(yīng)用于殘留奧氏體定量、環(huán)境定量、晶格常數(shù)的精密化、結(jié)晶度的計算、晶體粒徑和晶格應(yīng)力的計算、晶系確定、Rietveid結(jié)構(gòu)解析軟件進(jìn)行的晶體結(jié)構(gòu)解析。通過追加附件，還可以應(yīng)用于應(yīng)力測定、樣品加熱過程的分析、薄膜樣品測定等。

· 利用新開發(fā)的大型R-θ樣品臺，可以進(jìn)行大350mmφ樣品全表面的自動應(yīng)力成圖測定。

· 采用強大的多毛細(xì)管平行光束系統(tǒng)，可對應(yīng)凹凸不同的樣品的分析，擴(kuò)大應(yīng)用范圍。