| 參考價 | 面議 |
XPN-300偏光顯微鏡熔點儀、偏光溫控儀是地質、礦產、冶金等部門和相關高等院校zui常用的專業實驗儀器。偏光顯微鏡可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，觀察物體在加熱狀態下的形變、色變及物體的三態轉化。偏光顯微鏡配置有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子和移動尺等附件還可用于化工化纖、半導體工業以及藥品檢驗等領域。偏光熔點測定儀采用微電腦檢測，有自動P、I、D調節，及模糊手動調
| 一、用途 XPN-300偏光顯微鏡熔點儀、偏光溫控儀是地質、礦產、冶金等部門和相關高等院校zui常用的專業實驗儀器。偏光顯微鏡可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，觀察物體在加熱狀態下的形變、色變及物體的三態轉化。偏光顯微鏡配置有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子和移動尺等附件還可用于化工化纖、半導體工業以及藥品檢驗等領域。偏光熔點測定儀采用微電腦檢測，有自動P、I、D調節，及模糊手動調節功能，偏光熔點測定儀通過LED顯示溫度值及設定溫度值。 |  |  |
| 電腦偏光熔點測定儀 XPN-300EC | 數碼偏光熔點測定儀 XPN-300ZD | |
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| 二、系統簡介 | ||||||||||||||||||||||||||||||||
| 偏光顯微鏡熔點儀系統是將精密的光學顯微鏡技術、*的光電轉換技術、*的計算機圖像處理技術*地結合在一起而開發研制成功的一項高科技產品。可以顯示屏上很方便地觀察實時動態圖像，并能將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。 | ||||||||||||||||||||||||||||||||
| 三、技術參數： | ||||||||||||||||||||||||||||||||
1.目鏡：
2.物鏡：
3.放大倍數：40X 100X 400X 600X 系統放大倍數：40X-2600X 4.聚光鏡數值孔徑：NA1.2/0.22 搖出式消色差聚光鏡，中心可調 5.起偏鏡：振動方向360°可調，帶鎖緊裝置，可移動光路 6.檢偏鏡：可移出光路，旋轉范圍90°，內置勃氏鏡，中心可調 7.補償器：λ片（Ф18mm，一級紅，光程差551nm） λ/4片（Ф18mm, 光程差147.3nm） 石英楔子（12x28mm，Ⅰ-Ⅳ級） 8.調焦系統：帶限位和調節松緊裝置的同軸粗微動，微動格值 0.002mm 9.電光源：6V/20W 鹵素燈（亮度可調） 10.防霉：*的防霉系統 | ||||||||||||||||||||||||||||||||
| 四、偏光熔點測定儀 | ||||||||||||||||||||||||||||||||
| 1.偏光熔點測定儀 在 20X 物鏡下工作溫度可達到zui高300 ℃ 、溫度運行程序全自動控制；溫度程序段由用戶自行設定，30段溫度編程，循環操作，能準確反映設定溫度、爐芯溫度、樣品的實際溫度。每段設定起始溫度，及在該段內可維持時間，升溫速率可調、精度±0.3 ℃、記憶點讀數。 2.顯微加熱平臺 可以隨載物臺移動、工作區加熱面積大、透光區域可調、工作區溫度梯度低于± 0.1 起始溫度室溫 工作區加熱使用面積至少1X1cm 工作區溫度梯度不超過 ± 0.1oC 透光區域 2mm以上，可調 顯示溫度與實際溫度誤差不超過 ± 0.2 熱臺可以隨載物臺移動 熔點測定 溫度超過100度時，25X的物鏡工作距離太近，容易損壞鏡頭，請選用長工作距離的 20X、40X 物鏡 | ||||||||||||||||||||||||||||||||
| 五、系統組成 | ||||||||||||||||||||||||||||||||
| 電腦型高精度偏光顯微鏡（XPN-300EC）： 1、顯微鏡 2、熔點儀 3、攝像器(CCD) 4、A/D(圖像采集) 5、計算機 數碼相機型高精度偏光顯微鏡（XPN-300ZD）：1、顯微鏡 2、熔點儀 3、數碼相機 | ||||||||||||||||||||||||||||||||
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| 六、選購件 | ||||||||||||||||||||||||||||||||
| 1、高像素成像系統 2.偏光顯微鏡分析軟件 3.物鏡：20X | ||||||||||||||||||||||||||||||||
| 工廠實驗室選型 | 高校實驗室選型 | |||||||||||||||||||||||||||||||
| 典型應用圖例 | 儀器圖解說明 | |||||||||||||||||||||||||||||||
| 偏光動態圖例 | ||||||||||||||||||||||||||||||||
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