Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀完美結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技術(shù)，擁有15°、90°與173°三個(gè)散射角度，突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測(cè)量的局限性，硬件PALS技術(shù)*解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的精確測(cè)量，是目前市場(chǎng)上功能大的粒度與Zeta電位分析儀。

• 作為將背向光散射技術(shù)（Back-Scattering）引入高濃度粒度分析的廠家，Brookhaven公司應(yīng)用全新的光纖技術(shù)將背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)進(jìn)行了完美結(jié)合，突破性地推出了結(jié)合15°、90°與173°三個(gè)散射角度與硬件PALS（相位分析光散射）技術(shù)的Omni多角度粒與高靈敏度Zeta電位分析儀。隨著Omni的出現(xiàn)，突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測(cè)量的局限性，實(shí)現(xiàn)在同一臺(tái)粒度分析儀中，既可以同時(shí)兼顧大、小顆粒的散射光信號(hào)，又可以有效地提高了測(cè)量濃度上限，可達(dá)40%wt；硬件PALS技術(shù)（與傳統(tǒng)基于頻移技術(shù)的光散射方法相比，靈敏度可提高1000倍）的應(yīng)用，*解決了*以來(lái)無(wú)法對(duì)諸如在低介電常數(shù)、高粘度、高鹽度以及等電點(diǎn)附近這些測(cè)量條件下（電泳遷移率比通常水相條件下低10－1000倍，傳統(tǒng)方法沒(méi)有足夠的分辨率進(jìn)行測(cè)量）的樣品進(jìn)行分析的難題。Omni是目前市場(chǎng)上功能大的粒度與Zeta電位分析儀。

  
  

• 1.高靈敏性，粒度測(cè)量范圍：0.3nm～10μm；

  2.突破性的三檢測(cè)角度設(shè)計(jì)，測(cè)量角度：15°、90°和173°；

  3.硬件PALS技術(shù)，靈敏度高1000倍，適用于高鹽濃度、有機(jī)溶劑、油相體系；

  4.濃度范圍：0.1ppm至40%w/v；

  5.可作為在線(xiàn)檢測(cè)器與GPC/SEC連接，并通過(guò)SLS、DLS、光強(qiáng)和粒徑監(jiān)測(cè)聚集過(guò)程；

  6.綜合的粒度分析方法和模型Particle Solution 粒度測(cè)量軟件；

  7.強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析功能，可自動(dòng)研究粒度隨時(shí)間、溫度(蛋白熔點(diǎn))以及其他參數(shù)變化的趨勢(shì)分析.

  
  

• 1.蛋白、免疫球蛋白、縮氨酸、DNA、RNA、膠束
  

  2.脂質(zhì)體、外切酶體及其他生物膠體

  3.多糖、藥物制備

  4.納米顆粒、聚合物膠乳、微乳液

  5.油包水、水包油體系

  6.涂料、顏料、油漆、油墨、調(diào)色劑

  7.食品、化妝品配方

  8.陶瓷、耐火材料、廢水處理、炭黑

  
  

  應(yīng)用案例

  

  不同粒徑對(duì)Zeta電位等電點(diǎn)的影響 不同官能團(tuán)配比對(duì)等電點(diǎn)的影響 Zeta電位值與細(xì)胞吸收度的關(guān)系

  通過(guò)調(diào)整顆粒的粒徑或正負(fù)電荷官能團(tuán)的比例，混合電荷修飾的納米金顆粒其等電點(diǎn)可以在4～7之間明顯的變化，不同比例的官能團(tuán)和顆粒的靜電荷對(duì)動(dòng)物細(xì)胞吸收度有著重大影響。（數(shù)據(jù)摘自JACS）

  
  

• omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀技術(shù)指標(biāo):

  項(xiàng)目		Omni
  功能	測(cè)量的參數(shù)	粒度、分子量、A2 Zeta電位、電泳遷移率
  粒度及分子量	工作原理	經(jīng)典動(dòng)態(tài)光散射和背向光散射原理
  	粒度范圍	0.3nm-10μm
  	散射角	15°、90°和173°
  	測(cè)量精度	1%
  	靈敏度	＞300 Kcps(甲苯)
  	濃度范圍	0.1ppm至40%w/v*
  	小樣品量	10μL
  	分子量范圍	342～2×107Dalton
  	數(shù)字相關(guān)器	4×1011個(gè)線(xiàn)性通道，可拓展互相關(guān)測(cè)量
  	分析算法	NNLS、CONTIN、Lognormal、蛋白質(zhì)與聚合物分析模型
  Zeta 電位	工作原理	硬件PALS技術(shù)
  	適用粒度范圍	1nm～100μm
  	Zeta電位范圍	－500mV～500mV
  	電導(dǎo)率范圍	0-30S/m
  	電泳遷移率范圍	10-11～10-7m2/V.s
  	樣品體檢	0.18-1.5mL
  	pH測(cè)量范圍	1-14
  	電極	耐腐蝕/有機(jī)溶劑電極
  系統(tǒng) 參數(shù)	激光源	40mW光泵半導(dǎo)體激光器（根據(jù)用戶(hù)需求，提供激光器選擇）
  	檢測(cè)器	高量子效應(yīng)雪崩型二極管（APD），PDE＞70%
  	溫度控制	－5～110℃，±0.1℃
  	冷凝控制	干燥空氣
  	分析軟件	Particle Solution粒度與Zeta電位分析軟件
  	大小及重量	233mm (H) x 427 mm (W) x 481mm (D)，15 kg

  *以樣品為準(zhǔn)

• 
  

  項(xiàng)目		omni
  選件	微流變	檢測(cè)弱結(jié)構(gòu)溶液的粘彈性信息
  	表面膜電位	固體表面膜電位測(cè)量
  	實(shí)時(shí)在線(xiàn)測(cè)量	粒度及Zeta電位實(shí)時(shí)在線(xiàn)測(cè)量
  	自動(dòng)滴定儀	可對(duì)PH值、電導(dǎo)率和添加劑濃度作圖
  	介電常數(shù)儀	直接測(cè)量溶劑的介電常數(shù)值
  	粘度計(jì)	用于測(cè)量溶劑及溶液的粘度
  	21CFR軟件	符合FDA要求的21CFR part 11操作軟件和儀器材料