L75 PT HS/HD水平模式熱膨脹儀系列的開發是為了滿足普遍學術和實驗室研究的需求。該系統可以測量固體、液體、粉末和膠體的熱膨脹系數。該系統的*設計保證了高的精度、重復性和準確性。L75 PT HS/HD水平模式熱膨脹儀系列適用于真空、氧化性和還原性氣氛中測量。
L75 PT HS/HD水平模式熱膨脹儀系列的開發是為了滿足普遍學術和實驗室研究的需求。該系統可以測量固體、液體、粉末和膠體的熱膨脹系數。該系統的*設計保證了高的精度、重復性和準確性。L75 PT HS/HD水平模式熱膨脹儀系列適用于真空、氧化性和還原性氣氛中測量。
該系統可以用于單樣品，雙樣品或差示條件下測量，以獲得更高的精度或樣品通量。該膨脹儀可選機械和電子部件方便拆卸拆便于在手套箱中的測量使用。
利用自動壓力控制設備，根據研究需要，接觸壓力可以連續地在10—1000mN調整。利用此特性可以連續地選擇控制樣品膨脹或收縮整個過程中的接觸壓力。
可以測量以下的物理性質：
熱膨脹系數，線性熱膨脹，物理熱膨脹，燒結溫度，相變，軟化點，熱分解溫度，玻璃化轉變溫度。
型號 | DIL L75 水平 |
溫度范圍 | -180 up to 2800°C |
LVDT: |
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Delta L 分辨率 | 0.03 nm |
測量范圍 | +/- 2500 µm |
接觸壓力 | 10 mN 至 1 N |
Optical Encoder: |
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Delta L 分辨率: | 0.1 nm |
測量范圍 | +/- 25000 µm |
樣品長度自動檢測 | 是 |
可調功率 | 是 |
壓力調節 | 是 |
接觸壓力 | 10 mN 至 5N |
多爐體配置 | 可配置雙爐體 |
電加熱爐 | 可選 |
氣體計量裝置 | 手動氣體計量或質量流量控制，1/3或更多氣路 |
接觸壓力調整 | 包含 |
單桿/雙桿熱膨脹 | 可選 |
軟化點檢測 | 包含 |
密度測定 | 包含 |
L-DTA: | 可選 (至 2000°C) |
速率控制燒結（RCS）： | 包含 |
熱分析數據庫 | 包含 |
電恒溫探頭 | 包含 |
低溫附件 | LN2, Intra |
真空密閉設計 | 是 |
真空裝置 | 可選 |
OGS吸氧系統： | 可選 |
所有的LINSEIS熱分析設備都是用計算機控制的，各個軟件模塊僅在Microsoft® Windows®操作系統上運行。完整的軟件包括3個模塊：溫度控制，數據采集和數據分析。與其他熱分析系統一樣，該用于熱膨脹測量的32位Linseis軟件可以實現所有測量準備、實施和評估的基本功能。經過專家和應用工程師的努力，LINSEIS開發出這款容易操作且實用的軟件。
以下是我們提供配件的簡要摘錄：
爐體選擇
附件
聚合物，陶瓷/玻璃/建材，金屬/合金，無機物
陶瓷，建材和玻璃工業，汽車/航空/航天，研究開發和學術界，金屬/合金工業，電子工業
利用L75膨脹計可以方便的分析水晶的熱膨脹。外加的DTA功能可用于深入了解材料的熱行為。DTA測量是基于樣品溫度的數學過程。在動態加熱或冷卻過程中放熱和吸熱作用影響樣品溫度的變化。在大約 575 °C發生相變。與文獻值（ 574 ℃）對比得到測得溫度的偏差，可用于溫度校正。
氬氣氣氛下的鐵樣品線性熱膨脹（delta L）和的熱膨脹系數進行分析。升溫速率為5K/min 。736.3 ℃（熱膨脹系數的峰值溫度）后檢測到收縮，這是由于原子結構發生變化，被稱為居里點。測量值和文獻結果的差異是由于樣品的污染導致的。
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