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SOC-210 BDR 高精度BRDF測量儀

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img1

 

SOC-20是一款高精度科研BRDF測量系統,可以從可見到中紅外波譜范圍內全自動測量樣品BRDF,實現光學表面、油漆、涂層、液體和顆粒等雙向反射分布函數BRDF)制圖。BRDF 數據可以提供研究材料光學性能所必須的方向反射信息,如表面能量散射的方向和強度

主要特點:

光譜范圍0.35~14μm(基于檢測器選項)img2

測量本底噪聲<10-3sr-1

可水平裝置粉末和液體樣品進行測量

重復性本底噪聲的5

全自動測量四個角坐標 (Θ and Φ、入射及反射角)

集成電控單元,用于快速處理、顯示和存儲數據

自動帶通濾光輪,一次性測量十二種多光譜通道。

支持斯特林循環冷卻的MCTInSb檢測器,無人值守地全自動數據采集,自動切換標樣樣品測量

測量指標:

全半球雙向反射分布函數BRDFimg3

     非偏振BRDF

     線性偏振BRDF

雙向透射分布函數BTDF

應用領域:

航空工業

國防

航天

行星探測

涂層領域

光學材料質量控制

技術參數:

   

   

測量項目

BRDFBTDF

光譜范圍

0.35~14μm

角度范圍

? Incident polar: Theta i Θi = 0° to 85°

? Incident azimuthal: Phi i Φi = 0° to 350°

? Reflected polar: Theta r Θr = 0° to 85°

? Reflected azimuthal: Phi r Φr = 0° to 360°

角度精度

0.1°

光譜濾波

標準商業化1英寸薄膜帶通濾光片

自動化

Θi,Φi,ΘrΦr,光源孔徑,濾光輪和樣/X

光源

Quartz halogen lamp, and silicon carbide glower

檢測器

Si, InGaAs, dual InSb/MCT

本底噪聲

<10-3sr-1

樣品尺寸

1英寸圓片、粉末、液體

運行

PC控制,全自動測量

尺寸

53W x 53D x 75H

產地:美國


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