X20-OM超低振動超精細閉循環恒溫器是特別為光學顯微實驗設計，如顯微-光致發光(Micro-PL)，顯微拉曼等。
X-20-OM系列恒溫器使用氦氣交換冷卻樣品，系統振動級別僅為3-5nm,樣品處低溫度可達3.5K，溫度可達800K。
應用實例
• 顯微光致發光
• 顯微拉曼
• 顯微光譜
• 顯微-FTIR
• 量子點
• 低振動光學測試
• 磁光克爾效應(MOKE)
典型特點
• 3-5 nm超低振動
• 支持1.5mm工作距離
• 1.5 - 7 mm的連續可調樣品座
• 低厚度窗片
• 可根據客戶要求進行定制
標準結構
• DE-204/DE-210冷頭
• ARS-壓縮機
• 2 根柔性氦氣傳輸管道
• X-20超低振動結構
• 鋁制真空外罩帶1個窗口位置供用戶做顯微及電學實驗
• 鎳鍍金無氧銅防熱輻射屏
• 1個高純度石英窗口
• 供溫度測試和控制的儀表群：
• 10 針密封電學接頭
• 50 歐姆片狀加熱器
• 為控溫而備的精度為± 0.5 K的硅二極管溫度計
• 精度為±12 mK的校準型硅二極管溫度計(帶4英尺線纜供樣品的精確測試）
• 顯微測試樣品座
• 溫控儀
可選配置及升級選項
• 傳輸實驗升級
• 可旋轉樣品盤升級
• 磁鐵升級
• 4 K 冷頭
• 5.5 K 冷頭
• 高溫臺
• 更高溫臺
• 可定制溫度計結構
• 可定制接線結構
• 可定制窗口材料
• 可定制樣品座
技術參數
冷卻技術--閉循環制冷機 |
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制冷方式 | 氣動GM制冷 | |
液體冷凍劑 | 無需制冷劑 | |
樣品區溫度范圍：< 10K - 350K （低溫可選7K,3.5K;高溫可選450K,800K） 3.5K低溫度下，降溫到20K需要80分鐘，降溫到4.2K需要180分鐘，液氦持續時間：40分鐘， 溫度穩定性：3mK | ||
溫度穩定性 | ±50mK | |
樣品空間 | ||
直徑 | 19mm | |
高度 | 1.5mm-7mm連續可調 | |
樣品架 | ||
光學通路 | ||
窗口數量 | 1/2（透射選件） | |
直徑 | 25.4mm | |
可視區 | 23mm | |
#/F | 可調節 | |
窗口材料 | ||
應用示例
DE204SF-DMX-20-OM 客戶反饋： Dr Matteo Masino Dip. Chimica Generale ed Inorganica 下圖是為了告訴你我們近在顯微鏡下為拉曼和紅外設計的閉式循環低溫恒溫器的實驗。 下面你可以看到兩張照片，一張是在室溫下關閉系統的測試，另一張是在8K時拍攝的，以及它們的相對應的拉曼光譜。從圖片中可以看到，系統沒有振動，檢測到的拉曼光譜也很好。這個樣品也很有趣，因為它在冷卻時顯示出相變：不同溫度下的拉曼光譜清楚地顯示了這種相變的開始。 總之，我們真的很滿意。 | |
針狀晶體是一種電荷轉移分子晶體. |
應用示例
| DMX-20應用于穆斯堡爾譜 | |
關閉冷頭  計算參數： 寬度=0.269 mm/s w13=1.17 W23=1.08 ISO=0.000毫米/秒 bhf=32.94噸 校準光譜： 金屬箔測量（厚度25 mm） | 開啟冷頭  計算參數： 寬度=0.270 mm/s w13=1.21 W23=1.11 ISO=+0.115毫米/秒 bhf=33.81噸 校準光譜： 金屬箔測量（厚度25 mm） |
當系統正確安裝在墻壁和工作臺上并進行適當調整后，壓縮機工作時產生的振動影響非常小（幾乎可以忽略不計）。 加寬（不是擴大！）*可復制，遠低于2%。這種加寬實際上沒有任何影響，幾乎在所有情況下都可以忽略。但是，比較林寬度的時候需要用同樣計算方式！ Displex系統實際上是無振動的！ Prof. Dr. habil. Michal Kopcewicz,電子材料技術研究所 波蘭華沙 | 穆斯堡爾譜低溫恒溫器, DMX-20
Prof. Dr. habil. Michal Kopcewicz |
穆斯堡爾譜配置 | |
為了大限度地隔離振動，系統的正確安裝是非常重要的。ARS提供了一個特殊的超低振動支架用于隔離超低振動恒溫器來自冷頭和地板的振動。 該支架可以通過調節到恰當的高度來支撐冷頭。 低溫恒溫器安裝在低振動平臺上。它由一個高質量的花崗巖塊（用戶提供）組成，由4氣腿支撐（可選ARS產品）。額外的彈性隔震器過濾掉從地板到低溫恒溫器的振動。 系統可通過關閉制冷機來觀察振動對實驗的影響來進行測試。 | |
橢圓偏振計 | |
應用于SOPRA橢圓偏振計的超低振動系統 | |
SEM 設備 | |
上圖展示了Displex和它的界面。照片中所有不銹鋼的部分都是對我們的JSM-5910掃描電鏡的升級。請注意我的上發表的論文，其中演示了用這個低溫系統獲得的CL的結果。 樣品溫度介于40 K和50 K之間。 Prof. Dan Rich 以色列比爾舍瓦本古里安大學 |
上圖為生長在帶圖案的GaN襯底上的InGaN/GaN量子阱. 該圖案由周期為10微米的條紋組成。 采用390 nm檢測波長拍攝的單色CL圖像(Mag. 2000)。 室溫和50K的圖像質量對比表明振動小于10nm。 |
FTIR 測試 | |
超低振動系統用于FTIR分光儀，帶有3個樣品的樣品座可在Z軸方向進行移動。 |
超低振動系統用于BOMEM, DA8 FTIR分光儀。 |
電磁測試 | |
該款低溫恒溫器尾部真空罩緊湊，可使樣品插入到小型磁體孔進行測試。 |
該款低溫恒溫器尾部真空罩緊湊，可使樣品插入到小型磁體孔進行測試。 |
磁光測試 (MOKE) | |
超低振動低溫恒溫器用于MOKE（磁光克爾效應）。樣品可以根據情況放置在任意平面。極距可低至1英寸。 |
小直徑真空外殼可以插入狹窄的間隙（高場）。 光學窗口允許從樣品中收集光。 對于短焦距物鏡，窗口可以無限接近樣品 |
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CRYOTABLE超穩低溫光學平臺用于搭建近場掃描光學顯微鏡、原子力顯微鏡(AFM)，研究石墨烯、TMDs等各種二維材料的等離子體激元、極化子和波導模態 | DMX-20-OMXYZ 納米定位平移臺 用于樣品掃描或定位。 |
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CS204SF-DMX-20-OM-T | CS204SF-DMX-20-OM-RCS204SF-DMX-20-OM-R是為共焦顯微鏡設計的，溫度范圍從10 K-325 K。它的內置鏡頭和納米定位器消除漂移，同時使樣品聚焦和平移。 |
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DMX-20-OM0 to 90 度可旋轉樣品座 在您的ARS系統中旋轉樣品座 | CS210-GMX-20-OM界面 |
>>點擊查看詳細信息
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