PI-85納米壓痕儀可以集成在掃描電子顯微鏡（SEM）里的一個深度控制納米力學檢測儀系統。通過這個系統能夠同時進行量化納米力學性能檢測和SEM形貌觀察。

            Picoindentor 85 原位納米壓痕儀

PI-85是可以集成在掃描電子顯微鏡（SEM）里的一個深度控制納米力學檢測儀系統。通過這個系統能夠同時進行量化納米力學性能檢測和SEM形貌觀察。 耦合這兩種技術可使研究人員非常精確地定位探頭，并且可使研究人員使用SEM圖像記錄測試材料的整個變形過程。

PI-85是可以集成在掃描電子顯微鏡（SEM）里的一個深度控制納米力學檢測儀系統。通過這個系統能夠同時進行量化納米力學性能檢測和SEM形貌觀察。 耦合這兩種技術可使研究人員非常精確地定位探頭，并且可使研究人員使用SEM圖像記錄測試材料的整個變形過程。達到“可遠觀亦可褻玩”目的。