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Microtech的熱釋電探測器是利用熱釋電材料的自發極化強度隨溫度變化的效應制成的熱敏型探測器。Microtech基于 LiTa03 晶體開發的熱釋電THz探測器，專門設計用于調制在毫米或者亞毫米波長范圍內的電磁輻射。在方波調制輻射中，探測器鋸齒信號電壓是和輻射的強度成正比。探測器輸入端裝有黑色濾光片，用于去除可見光和紅外區域的雜散光。此外，熱釋電探測器具有結構簡單、成本低、室溫可工作和探測頻帶寬的性能，可以很好地用于被動成像等領域。
太赫茲熱釋電探測器-熱釋電太赫茲功率計-太赫茲功率計 產品描述：
Microtech 太赫茲熱釋電探測器-熱釋電太赫茲功率計-太赫茲功率計 是利用熱釋電材料的自發極化強度隨溫度變化的效應制成的熱敏型探測器。Microtech基于 LiTa03 晶體開發的熱釋電THz探測器，專門設計用于調制在毫米或者亞毫米波長范圍內的電磁輻射。在方波調制輻射中，探測器鋸齒信號電壓是和輻射的強度成正比。探測器輸入端裝有黑色濾光片，用于去除可見光和紅外區域的雜散光。探測器配有標準BNC連接器。熱釋電探測器的光譜范圍為o-1.5 THz(帶黑色濾光片)或近紅外(不帶濾光片)。與高萊探測器相比，太赫茲熱釋電探測器提供較低的響應率，但有一個更快的響應時間。它通過電池供電，便于使用與攜帶，具有高靈敏度、高動態范圍及較廣的探測范圍等優點。此外，熱釋電探測器具有結構簡單、成本低、室溫可工作和探測頻帶寬的性能，可以很好地用于被動成像等領域。
工作原理：
熱釋電太赫茲探測器就是通過晶體的熱釋電效應來探測太赫茲輻射的，所以其材料主要是具有熱釋電性的晶體。如圖所示，當太赫茲輻射到這類晶體上時，會引起晶體溫度的變化，這個溫度變化會導致晶體內部的載流子分布發生變化，從而在晶體兩端形成一個電勢差。電勢差的變化情況不同，對應不同能量的太赫茲輻射。然而由于這種熱釋電效應產生的電勢差是由于晶體溫度差所引起的，當晶體的溫度重新平衡以后，這個溫度差就不再存在，電勢差也隨即消失，所以熱釋電太赫茲探測器只能探測被調制的太赫茲輻射或是脈沖太赫茲輻射。雖然這種熱釋電特性使其探測具有一定的局限性，并且靈敏度不高，但是熱釋電探測器具有結構簡單、成本低、室溫可工作和探測頻帶寬的性能，可以很好地用于被動成像等領域。
產品特點：
應用范圍：
太赫茲熱釋電探測器-熱釋電太赫茲功率計-太赫茲功率計 技術參數：
典型響應曲線：
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