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Spectis 8.0 高精度光譜儀-高精度光譜輻射度計-Spectis8.0

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GL Spectis 8.0 是一款*的集成式光譜輻射計,配備了高靈敏度背薄式熱電制冷CCD圖像傳感器,采用二氧化硅透射光柵和OSR雜散光抑制方法,可大幅減少雜散光,確保測試結果的高精度。此外,產品經過精確校準,可與其他設備結合使用,測量所有類型的光源,顯示器以及LED燈,滿足各種測量要求。

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高精度光譜儀-高精度光譜輻射度計-Spectis8.0 產品描述:

高精度光譜儀-高精度光譜輻射度計-Spectis8.0 是一款*的集成式光譜輻射計,配備了高靈敏度背薄式熱電制冷CCD圖像傳感器,采用二氧化硅透射光柵和OSR雜散光抑制方法,可大幅減少雜散光,確保測試結果的高精度。此外,產品經過精確校準,可與其他設備結合使用,測量所有類型的光源,顯示器以及LED燈,滿足各種測量要求。

高精度光譜儀-高精度光譜輻射度計-Spectis8.0

工作原理:

GL optic SPECTIS 8.0光譜輻射計采用光電技術,使用革命性的OSR方法/光學雜散光抑制方法,與傳統的實驗室測量設備相比,具有許多優勢。鏡/光柵/鏡光譜儀平臺使用二氧化硅透射光柵和背薄式CCD圖像傳感器。傳感器和電子設備具有熱穩定性,并且軟件會不斷監控基線水平。透射光柵提供了的透射性能和高擴散效率。這些特性允許設置非常短的積分時間,這對于高精度光源測量非常重要,并且可能是超快速生產過程控制應用中的關鍵因素。背薄式CCD Hamamatsu傳感器在寬光譜范圍內提供了很高的量子效率,有助于在UV,VIS和NIR范圍內實現更準確和低噪聲的光學測量。每個光譜輻射計都經過單獨校準,并且在光譜校準過程之前,執行三個預校準階段:(1)波長校準,(2)非線性校正和(3)光學雜散光抑制,可確保測試結果的高精度。該系統的高光學分辨率使其成為工業應用中窄帶光源測量和快速光學測量的理想工具。LED,熒光燈或LCD顯示器等不同的光源需要不同的光學探頭。GL optic SPECTIS 8.0可以與其他設備結合使用,測量所有類型的光源,顯示器以及LED燈,滿足各種測量要求。

產品亮點:

  • CCD背薄式傳感器,16位A/D轉換
  • PID控制熱電制冷,穩定暗電流并增加動態范圍
  • USB 2.0連接PC,軟件界面友好
  • 可搭配多個光學附件
  • 自動配件檢測

應用范圍:

  • 高精度科學和實驗室測量
  • 符合標準: CIE 127:2007,CIE 025/E:2015

高精度光譜儀-高精度光譜輻射度計-Spectis8.0 技術參數:

  • 波長范圍:200-1050nm
  • 傳感器:背薄式CCD(帶冷卻 5℃)
  • 像素:2048
  • 光學分辨率:2.0nm
  • 波長重復性:±0.2nm
  • 積分時間:10ms~10s(自動模式)
  • A/D轉換:16bits
  • 信噪比:2000:1
  • 雜散光:2*10E-4
  • 光譜輻射精度:± 2%
  • 色度精度:x,y ±0.001
  • 照度范圍:1~200,000 lx
  • PC界面:USB 2.0
  • 數據格式:XML
  • 外部電源適配器:輸入:AC 100~240V(50/60Hz)0.15A 輸出:DC 12V 5A
  • 操作溫度:5~35℃
  • 尺寸:270mm x 180mm x 325mm
  • 重量:4.8kg

高精度光譜儀-高精度光譜輻射度計-Spectis8.0 升級選項:

  • GL Opti Sphere
  • GL Opti Probe
  • GLG 4-500/30-1800

標簽:傳感器光度計光譜輻射計


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