Bruker全新設(shè)計的新一代直讀光譜儀Q2 ION在金屬材料分析的便捷性和簡易性上，帶來了一場新的革命。Q2 ION是現(xiàn)今市場上zui為輕巧的高性能直讀光譜儀。源自顛覆性的設(shè)計理念，緊湊的體積和強大的分析功能得以*地融合。Q2 ION可同時配備多種基體,適用于金屬行業(yè)中的原料檢驗及質(zhì)量控制。儀器誘惑力的價格定位及較低的運行成本使其備受眾多中小企業(yè)中青睞。

技術(shù)參數(shù)：

光學(xué)系統(tǒng)
非渡膜CCD檢測器，具有zui低的暗電流
平面光柵
波長覆蓋范圍：170-685nm
分辨率：30pm
氬氣驅(qū)氣以確保*光通量。
譜圖解析技術(shù)
動態(tài)溫度補償技術(shù)，確保在10至45度的外界溫度下具有*的穩(wěn)定性

分析方法組件
可應(yīng)用于各種不同基體
覆蓋所有主要元素及合金類型
適應(yīng)未來升級需要

激發(fā)源
免維護(hù)，兩相ＰＷＭ激發(fā)源
頻率５０－１０００Ｈｚ

火花臺
免維護(hù)
檢測期間氬氣消耗２．５ｌ／ｍｉｎ

軟件
給予Ｗｉｎｄｏｗｓ的操作軟件
用戶分級權(quán)限
定性及定量分析
操作軟件含分析數(shù)據(jù)庫及辦公軟件接口
牌號庫功能

電源
１００－２４０Ｖ（５０／６０Ｈｚ）
檢測期間２００Ｗ，待機時５０Ｗ
１６Ａ慢融保險絲或２５Ａ慢融保險絲

尺寸
長Ｘ寬ｘ高：４４０ｍｍ×３９０ｍｍ×２２０ｍｍ
重量：１９ｋｇ．

主要特點：

*的設(shè)計使得Q2 ION的重量只有不到20kg，可輕易攜帶到周邊的場所進(jìn)行現(xiàn)場分析工作。除此之外，儀器還有配套的行李箱可供用戶選擇，以方便儀器的攜帶及運輸。
    Q2 ION采用了技術(shù)—平面視場CCD光學(xué)系統(tǒng)，該技術(shù)使得Q2 ION的設(shè)計突破了傳統(tǒng)光譜的桎梏。光學(xué)系統(tǒng)所配備的動態(tài)溫度補償技術(shù)（AAC），確保儀器即便在10°C至45°C之間的外界溫度變化下也具有極其優(yōu)異的穩(wěn)定性。