高產能 8寸晶元檢查及缺陷分析系統-徠卡金相顯微鏡DM8000M ：提供了全新的光學設計，如理想的 宏觀檢查模式 或者傾斜紫外光 （OUV, 隨檢UV 選擇） 不但提高了分辨能力，而且該機照明 基于新的 LED 科技 ，一體化整合在顯微鏡機身上。 LED的超長使用壽命和低能耗特性大大降低了用戶 今后的使用成本.。

徠卡金相顯微鏡 DM8000M

高產能 8寸晶元檢查及缺陷分析系統 只要一指按鍵 您就可以切換放大倍率, 照明模式或相襯模式。半導體檢查顯微鏡DM8000 M,半導體測試顯微鏡DM8000 M,封裝檢查顯微鏡DM8000M,封裝測試顯微鏡,8寸晶元檢查顯微鏡。

提供了全新的光學設計，如理想的 宏觀檢查模式 或者傾斜紫外光 (OUV, 隨檢UV 選擇) 不但提高了分辨能力，同時也增加了觀察 8’’/200 毫米直徑大樣品 時的產量。該機照明 基于新的 LED 科技 ，一體化整合在顯微鏡機身上。 低熱輻射效應和一體化內置技術確保了顯微鏡四周空間具有 理想化的空氣環流。 LED的超長使用壽命和低能耗特性大大降低了用戶 今后的使用成本.。

只要一指按鍵 您就可以切換放大倍率, 照明模式或相襯模式。

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高產能 8寸晶元檢查及缺陷分析系統

徠卡金相顯微鏡 DM8000M為您帶來的優勢

視野擴大四倍以上 宏觀放大功能 使您可以比傳統掃描物鏡多看四倍以上的視野。	極限分辨率 全新的傾斜紫外模式 (OUV) 在紫外光基礎上結合了傾斜光設計理念，確保您可以從任何角度都得到可見物理光學的極限分辨率。
人機工程學設計 非常適合 長時間在顯微鏡上工作, 直觀操作適應任何程度的使用者。	LED 照明 內置一體化的 LED照明 達到了*的空氣環流. 長壽命和低能耗的LED特性同樣為用戶節省了大量成本。