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- 公司名稱 頂尖科儀(中國)股份有限公司
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- 型號(hào)
- 所在地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2021/3/19 23:15:44
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膜厚測量儀 | |||
通過薄膜表面與基底材料反射光的干涉現(xiàn)象,可快速可靠地測量半透明及透明膜的厚度。非接觸式測量,不會(huì)破壞測試樣品。 NanoCalc測試系統(tǒng)主要包括:寬帶光源、高性能線陣CCD光譜儀、傳輸光纖、樣品測試臺(tái)及測量分析軟件。NanoCalc膜厚測量儀適合于在線膜厚測量,包括氧化層、氮化硅薄膜,感光膠片及其它類型的薄膜,NanoCalc也可測量在鋼、鋁、銅、陶瓷等物質(zhì)上的抗反射涂層、抗膜涂層。
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