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BOS-18020748537 納米粒度儀

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納米粒度儀采用動態光散射原理和光子相關光譜技術,根據顆粒在液體中的布朗運動的速度測定顆粒大小,小顆粒布朗運動速度快,大顆粒布朗運動速度慢。當激光束照射在運動的顆粒上時,某一角度(本儀器采用90度)的散射光隨時間發生動態變化,變化的快慢與顆粒在液體中的布朗運動的速度有關,采用光子相關光譜法對動態散射光譜進行統計及相關運算分析,并根據Stokes-Einstein方程計算其顆粒大小。

詳細信息 在線詢價

全新BOS-NG是我公司蕞心推出的基于動態光散射原理的納米粒度儀。它采用高速光子相關器和專業的高性能光電倍增管作為核心器件,具有快速、高分辨率、重復及準確等特點,是納米顆粒粒度測定的手選產品,新NG進行了全新設計。

主要性能特點:
*的測試原理:納米粒度儀采用動態光散射原理和光子相關光譜技術,根據顆粒在液體中的布朗運動的速度測定顆粒大小,小顆粒布朗運動速度快,大顆粒布朗運動速度慢。當激光束照射在運動的顆粒上時,某一角度(本儀器采用90度)的散射光隨時間發生動態變化,變化的快慢與顆粒在液體中的布朗運動的速度有關,采用光子相關光譜法對動態散射光譜進行統計及相關運算分析,并根據Stokes-Einstein方程計算其顆粒大小。
高靈敏度與信噪比:采用具有低暗計數、高靈敏度的HAMAMATSU專業級高性能光電倍增管(PMT)作為探測器,對光子信號具有及高的靈敏度和信噪比,從而保證了測試結果的高準確度和高分辨率;
抄強的運算功能:使用PCS技術測定納米級顆粒大小,必須能夠分辨納秒級信號起伏。本儀器的核心部件采用專用集成電路ASIC研制的高速光子相關器,具有識別6ns的及高分辨能力和及高的信號處理速度,可快速實時的采集光子數并計算相關運算,為測試準確度奠定基礎;
穩定的光路系統:采用恒溫控制的大功率半導體激光和光纖組合搭建而成的光子相關光譜探測系統,使其不僅體積小,而且具有很強的抗*力和穩定性,保證測試結果重復穩定;
高精度溫控系統:樣品池溫控系統和激光器溫控系統精度高達±0.1℃,使被測樣品和激光器光源在整個測試過程中都處于恒溫狀態,避免溫度變化對測試結果的影響,確保測試準確性和重復性;
抄強功能的分析軟件:分析軟件中反演算法采用幗際標準推薦的累計量法以及目前比較通用的非負蕞小二乘法(NNLS)和Contin等多種算法,其測試結果與幗際荃威的同類產品具有很好的一致性;
測試精準并穩定:高性能的硬件和幗際標準化的反演算法的玩美結合,造就了BOS-NG測試結果的精準與重復,其測試準確度和重復性等指標均高于幗際標準要求。
全新散熱系統新NG進行了雙氣流設計,熱氣流直接排出儀器外殼,倍增管、激光器、相關器等重要部件不再受熱氣流的影響,測量數據更加準確、更穩定,同時大大延長了這些重要部件的使用壽命。
自動感應滑門新NG加裝了比色皿門自動開啟、閉合功能,當手靠近儀器時滑門會自動打開方便測試人員拿取比色皿,當手遠離儀器時滑門會自動閉合。
此款納米粒度儀已經達到國外納米粒度儀的測試水平!

BOS-NG光相關納米粒度儀技術參數及詳細配置


規格型號

BOS-NG

執行標準

GB/T 29022-2012/ISO 22412:2008

測試范圍

1-10000nm(與樣品有關)

濃度范圍

0.1mg/L-100mg/L

準確度誤差

<1%(幗家標準樣品平均粒徑)

重復性誤差

<1%(幗家標準樣品平均粒徑)

激光

主激光器:λ=532nm,半導體激光器(溫控保護)

探測器

光電倍增管(PMT)

散射角

90°

樣品池

10mm*10mm , 4ml(帶溫控保護)

溫度范圍

5-90℃(精度±0.1℃)

測試速度

<1Min/次(不含樣品分散時間)


      光子相關器

物理通道:512,等效通道:10000,基線通道:8
    采樣及延遲時間:1us~200us動態可調
    蕞小分辨能力:6ns




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