1、產品特點：    

      EIGER2 R CdTe 1M X 射線探測器將混合像素光子計數探測器的發展和碲化鎘感光像素的高量子效率集合在一起。對于使用高能量 X 射線源或需要雙閾值設置時， EIGER2 R CdTe 1M 是的選擇。

     DECTRIS 公司的即時觸發技術使他們具有的高計數率能力，可以更精確地測量實驗室X射線源 所能達到的強度。DECTRIS 公司的即時觸發技術使 EIGER2 R CdTe 1M 探測器具有的高計 數率能力，可以更精確地測量實驗室 X 射線光源所能達到的強度。EIGER2 R CdTe 1M 探測器具有兩個能 量閾值，所以與上一代探測器相比，它在環境背景下擁有更低的暗電流和背景噪音。這大大提高了弱信號和長 時間曝光的信噪比，使得它在更短的測量時間下就能獲得更好的數據質量。單光子計數與計數器連續讀/寫技術 相結合，克服了傳統積分探測器容易飽和以及動態范圍有限的問題。此外，感光像素直接將X射線轉化為電信號 配合小到 75μm 的像素尺寸使得探測器具有更高的空間和角度分辨率。

2、核心優勢：

       – 的量子效率、更短的測試時間和更高質量的數據

       – 即時觸發技術使得計數率大幅度提高

       – 雙能閾值，可用于低背景和高背景的抑制

       – 無讀出噪音和暗電流，確保了的信噪比

       – 計數器具有同時讀/寫功能，確保了高動態范圍和無飽和的圖像

3、應用領域：

       - 大分子晶體學（MX）；

       - 化學結晶學；

       - 小角X射線散射和廣角X射線散射(SAXS/WAXS）；

       - μCT；

       - 其它；

4、技術參數：