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光腔衰蕩光譜測量系統(ppm級超高精度反射率測量)

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光腔衰蕩光譜方法(CRDS,CavityRing-DownSpectroscopy)是一種基于高精細度諧振腔的高靈敏度探測技術,主要用于測量各種反射率大于99%的超高反射率反射鏡的反射率,測量精度可達百萬分之一量級!光腔衰蕩光譜方法通過對指數型的腔內衰蕩信號的檢測,擺脫了激光能量輸出的起伏所引起的誤差

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光腔衰蕩光譜方法(CRDS, Cavity Ring-Down Spectroscopy)是一種基于高精細度諧振腔的高靈敏度探測技術,主要用于測量各種反射率大于99%的超高反射率反射鏡的反射率,測量精度可達百萬分之一量級!


光腔衰蕩光譜方法通過對指數型的腔內衰蕩信號的檢測擺脫了激光能量輸出的起伏所引起的誤差。由兩片99.99% 反射率組成的光腔對損耗的測量精度可達ppm量級。


應用領域:

高反射鍍膜層損耗的精密測量

正入射反射率R>>99%的平面或凹面光學元件的損耗測量

精度dR/R<2ppm @="" r="">99.5%

檢測用激光波長可選(如355nm…532nm…633nm…1064nm…1319nm

 

測量原理:

脈沖光或快速開關的連續光耦合進諧振腔

待測膜層在每次往返光程中經反射產生損耗

的輸出信號的測量得到衰蕩數據

脈沖光往返時間已知,根據衰蕩的時間特點,得到反射率

 

技術指標:

測量反射率:    R>>99%

精度:              dR/R < 2ppm="" @="" r="">99.5%

樣品/基底要求*:  ?1”Or 0.5”, 厚度~6mm

基底透明,后表面平面拋光

*0o正入射測量,其他要求可訂制。

供電電源:

激光器              100~240VAC, 50~60Hz

探測器              +/-9 VDC

接口:              USB 2.0

含數據采集, A-D轉換,數據處理等模塊。軟件包括反射率分析、生產數據錄入及處理等。


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