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熒光分布成像系統(tǒng) EEM View

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 日立集團(tuán)
  • 品牌
  • 型號(hào)
  • 所在地
  • 廠商性質(zhì) 其他
  • 更新時(shí)間 2023/2/16 9:05:19
  • 訪問次數(shù) 108

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熒光分布成像系統(tǒng)采用全新設(shè)計(jì),可以測(cè)定并觀察樣品的光譜數(shù)據(jù)。利用AI光譜圖像處理算法*1,不但可以分別顯示樣品的熒光圖像和反射圖像,還可以獲得不同區(qū)域的光譜圖像*1(熒光光譜、反射光譜)。*1計(jì)算系統(tǒng)是國立信息學(xué)研究所的IMARI SATO教授和鄭銀強(qiáng)副教授共同研究的成果。*EEM是日立科學(xué)公司在中國和日本的注冊(cè)商標(biāo)

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熒光分布成像系統(tǒng) EEM® View

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熒光分布成像系統(tǒng)采用全新設(shè)計(jì),可以測(cè)定并觀察樣品的光譜數(shù)據(jù)。利用AI光譜圖像處理算法*1,不但可以分別顯示樣品的熒光圖像和反射圖像,還可以獲得不同區(qū)域的光譜圖像*1(熒光光譜、反射光譜)。

*1
計(jì)算系統(tǒng)是國立信息學(xué)研究所的IMARI SATO教授和鄭銀強(qiáng)副教授共同研究的成果。
*
“EEM”是日立科學(xué)公司在中國和日本的注冊(cè)商標(biāo)

  • 特點(diǎn)

  • 應(yīng)用數(shù)據(jù)

  • 指標(biāo)

特點(diǎn)

什么是EEM View

新技術(shù)可同時(shí)獲得熒光 · 反射圖像和光譜

  • 測(cè)定樣品的光譜數(shù)據(jù)(反射光譜、熒光光譜)
  • 在不同光源條件(白光和單色光)下拍攝樣品
     (區(qū)域:Φ20 mm、波長(zhǎng)范圍:380~700 nm)
  • 采用AI光譜圖像處理算法*1,能夠分別顯示樣品熒光圖像和反射圖像
  • 根據(jù)圖像可獲得不同區(qū)域的光譜信息*1(熒光光譜、反射光譜)
*1
計(jì)算系統(tǒng)是國立信息學(xué)研究所的IMARI SATO教授和鄭銀強(qiáng)副教授共同研究的成果

EEM View Analysis 界面(樣品:LED電路板)

熒光分布成像系統(tǒng)概要

均勻的光源系統(tǒng)

同時(shí)獲取樣品的熒光 · 反射圖像和光譜!

  • 積分球漫反射使光源均勻化
  • 利用積分球收集的光均勻照射樣品
  • 采用熒光檢測(cè)器和CMOS相機(jī)雙檢測(cè)模式

新型熒光分布成像系統(tǒng)可安裝到F-7100熒光分光光度計(jì)的樣品倉內(nèi)。入射光經(jīng)過積分球的漫反射后均勻照射到樣品,利用F-7100標(biāo)配的熒光檢測(cè)器可以獲得樣品熒光光譜,結(jié)合積分球下方的CMOS相機(jī)可獲得樣品圖像,并利用的AI光譜圖像處理算法,可以同時(shí)得到反射和熒光圖像。

樣品安裝簡(jiǎn)單,適用于各種樣品測(cè)試!

樣品只需擺放到積分球上,安裝十分簡(jiǎn)單!

  • 板狀樣品:通過石英窗安裝樣品。
  • 粉末樣品:將粉末填充至樣品平整夾具中,置于粉末樣品池支架,或使用選配件固體樣品支架中的粉末樣品池安裝樣品。

  • 校正時(shí),需放置好熒光標(biāo)準(zhǔn)樣品。
  • 請(qǐng)使用選配的標(biāo)準(zhǔn)白板(100 %)和空白樣品(0 %)進(jìn)行校正。此校正工具可被應(yīng)用于熒光強(qiáng)度、反射率校正, 以及圖像不同區(qū)域的亮度分布校正。

 

應(yīng)用數(shù)據(jù)

【應(yīng)用實(shí)例】微結(jié)構(gòu)材料的熒光特性和結(jié)構(gòu)確認(rèn)

為了提高可視性,我們測(cè)量了具有精細(xì)結(jié)構(gòu)的熒光反射片。

同時(shí)獲得光譜數(shù)據(jù)和樣品圖像

對(duì)樣品照射360 nm~700 nm范圍內(nèi)的單色光以及白光。此時(shí),可獲得不同光源條件下的圖像,同時(shí)通過熒光檢測(cè)器可獲得熒光光譜。測(cè)定完成后,可以查看樣品的三維熒光光譜(激發(fā)波長(zhǎng)、發(fā)射波長(zhǎng)、熒光強(qiáng)度)。在專用分析軟件中,可對(duì)圖像進(jìn)行放大,從而顯示不同區(qū)域的熒光 · 反射光譜。因此能夠確認(rèn)光學(xué)性能分布不均勻的樣品的反射和熒光光譜。

計(jì)算、顯示不同區(qū)域的光譜(熒光 · 反射)

顯示分離圖像(熒光 · 反射)

對(duì)拍攝到的圖像進(jìn)行反射光成分圖像與熒光成分圖像分離

利用AI光譜圖像處理算法,將拍攝的圖像分離為反射光成分和熒光成分圖像。結(jié)果,反射光成分圖像顯示為橙色,熒光成分圖像顯示為綠色。二者分別與反射光譜與熒光光譜的單色光一致。由此可知,此樣品是橙色反射光和綠色熒光的混合,所以在白光下呈黃色。此外,通過反射圖像和熒光圖像可看出樣品不同區(qū)域的光學(xué)特性(圖像圖案)差異。放大圖像后可以看到,反射板的微細(xì)結(jié)構(gòu)存在規(guī)律的間隔,其間隔寬度是200 μm。

指標(biāo)

主要功能

主要功能
項(xiàng)目內(nèi)容
EEM View模式
(測(cè)定模式)
三維熒光光譜的測(cè)定
單色光圖像
白色光圖像
預(yù)覽圖像
數(shù)據(jù)處理 顯示縮略圖
顯示三維熒光光譜(等高線,漸變圖)
顯示激發(fā)/發(fā)射光譜
顯示放大圖像
圖像分區(qū)(1×1、2×2、3×3、4×4、5×5)
計(jì)算、顯示不同區(qū)域光譜(熒光、反射)*1
顯示分離圖像(熒光、反射)*1
*1
計(jì)算系統(tǒng)是國立信息學(xué)研究所的IMARI SATO教授和鄭銀強(qiáng)副教授共同研究的成果

規(guī)格

規(guī)格
項(xiàng)目內(nèi)容
照射波長(zhǎng)

360 nm ~700 nm

相機(jī) 彩色(RGB)CMOS傳感器
接口

USB3.0

有效像素?cái)?shù) 1920 × 1200(H×V)
可拍攝波長(zhǎng)范圍

380 nm ~700 nm

*
此配件的主要規(guī)格以熒光分光光度計(jì)主機(jī)為設(shè)計(jì)依據(jù)。

配置示例

配置示例
名稱P/N(序列號(hào))
F-7100熒光分光光度計(jì)

5J1-0042

EEM View配件

5J0-0570

R928F光電倍增管

650-1246

副標(biāo)準(zhǔn)光源

5J0-0136

應(yīng)用

介紹分光熒光光度計(jì)(FL)的測(cè)量實(shí)例。

熒光分光光度計(jì)之光譜精確測(cè)定

介紹有關(guān)補(bǔ)正裝置間機(jī)差的方法和去除散亂光的方法。

固體樣品熒光光譜

介紹使用固體樣本保持器(可選)等離子體顯示器的熒光光譜測(cè)量實(shí)例。

科學(xué)環(huán)

介紹以科技領(lǐng)域者為目標(biāo)的日立科學(xué)集團(tuán)的象征標(biāo)志。

關(guān)聯(lián)產(chǎn)品

  • 熒光分光光度計(jì)F-7100 熒光分光光度計(jì)F-7100
  • 熒光分光光度計(jì) F-7000 熒光分光光度計(jì) F-7000


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