2016年，日立高新全新的原子力顯微鏡—AFM5500M，此產品精確的測試水準，優異的自動化體驗為人類納米尺度的探索與研究提供了的解決方案。
特點：
1. 配備有4英寸電動樣品臺，樣品臺移動范圍XY±50 mm ,樣品尺寸Φ100×20mm，承重2kg
2. 可自動更換探針，并自動調節激光光路
3. 通過RealTuneⅡ可自動調節測試參數
4. 平面掃描器( XY閉環＋Z位移傳感器)，掃描范圍200μm× 200μm×15μm
應用領域：
1、 納米材料；
2、 新型能源材料；
3、 電子工業；
4、 生物科技。
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