雷尼紹是一家跨國公司，擁有遍布的科學家和工程師網絡，可隨時為您提供 產品、技術和應用方面的專業支持。

★★★，值得信賴 

inVia由一臺研究級顯微鏡和一臺高性能拉曼光譜儀耦合而成。它操作簡單但性能出眾 — 高信號傳輸效率與高 光譜分辨率和穩定性相結合 — 即使應用于挑戰性的測量，也能給出可靠的分析結果。 inVia高效的光學設計可產生高質量的拉曼數據，即使分析材料的微痕量也不例外。如果您希望輕松可靠地獲得 信息豐富且細節化的化學圖像和關于離散點的高度特定的數據，那么inVia系統是您的理想選擇。 

★★★的靈活性和可升級性

inVia極其靈活，可升級、修改和定制，不影響性能。可配用附件、激光器、光纖探頭或將拉曼與其他技術聯 用；無論您選擇的是哪種inVia配置，您都將擁有一臺市場上靈活性和靈敏度的拉曼系統。如果我們的標準產品 不能準確貼合您的需求，我們的“非標準產品團隊”可以開發定制解決方案，以滿足您的要求。 

★★★、性能可靠、使用壽命長 

inVia共焦顯微拉曼光譜儀是運用雷尼紹在精密機械制造和創新工程方面的豐富經驗設計而成的。經過20多年的 開發和優化，inVia憑借其優異的品質和的性能，已成為市場上最可信賴的拉曼儀器之一。選擇雷尼紹作為您的 拉曼合作伙伴是一項明智的投資，您的inVia將“經久不衰”。 作為專業供應商，雷尼紹將為您的拉曼系統提供終身支持與服務；儀器診斷、維修和調節可以遠程實現或者由 我們服務團隊的人員現場執行。 

沒有其他顯微拉曼光譜儀制造商能夠在單一系統中提供同樣水平的靈活性和靈敏度。

• 優異性能

  inVia性能出眾，無論觀察何種樣品，它均可在最短的時間內給出 質的數據。 

• 靈敏 

  即使最弱的拉曼散射信號也能觀察到并獲得薄膜與單層（材料）的光 譜。 

• 功能強大 

  使用inVia進行拉曼和光致發光兩種測量，以獲取材料在電子和振動結 構方面的信息，或與其他分析技術聯用獲得更有效的綜合解決方案。 

• 自動 

  inVia全自動化功能可為您操縱激光波長、濾光片和光柵的變化。 inVia還可保持聚焦狀態、執行系統準直和校準，這樣您就可以專注于 獲取實驗結果，而不必在調整拉曼系統上耗費精力。 

• 靈活

  inVia是可配置和升級的，極為靈活。無論是現在還是將來，您都 可以在不同的實驗條件下分析泛的樣品種類。 

• 可重復的結果 

  依靠inVia，產生您可以信賴的結果。有了inVia出眾的性能，您可以 相信：不管是多么具有挑戰性的實驗，它每次都能給出可重復的結果。 

• 易于使用

  inVia的自動化功能和（限制環境光的）可選樣品遮光罩極大提高了操 作效率，即使是在有多個使用者的繁忙的實驗室內。 

• 全套成像技術 

  inVia擁有一套綜合的成像和整體成像技術。可用這些技術來生成信息 豐富且細節化的2D面積和3D體積拉曼圖像。 

• 分析不規則樣品 

  inVia Qontor的實時自動聚焦追蹤技術能夠分析凸凹不平、彎曲或粗 糙的樣品表面，在白光視頻觀察和拉曼采集模式下樣品均能保持聚焦狀態。

• 高光學效率 ：快速且靈敏的分析。雷尼紹工程師運用他們在精密機 械制造和創新設計方面的豐富經驗， 將inVia打造成一臺的拉曼儀 器。他們選擇一種同軸消像散光譜儀， 該光譜儀具有高光學效率、優異的雜 散光去除能力和的靈敏度。 有了inVia，您可以研究非常微弱的拉 曼信號，甚至可以快速分析材料的微 痕量。

• 高光譜分辨率 ：分析各種樣品 。配置inVia來分辨較窄的光譜特 征結構，這樣您就可以在互相靠近的 拉曼譜帶之間進行區分，并辨別非常 相似的材料，比如復雜的混合物。

• 高光譜穩定性 ：獲得一致、可靠的數據 。inVia配有堅固、輕巧的底板，以 及精密的動態底座，可確保 的儀器穩定性，使您能夠監測拉曼譜 帶位置的微小位移。
  

• 多種激光和光譜范圍配置 ：性能絲毫不受影響 。inVia的工作范圍可擴展為從深 紫外到遠紅外。選擇的激光、 探測器、濾光片和光柵組合，以在 盡可能短的時間內獲得質的拉 曼數據。

• 無人為干預的寬范圍光譜 ：拉曼和光致發光測量 。使用雷尼紹的SynchroScan™ 連續掃描采集光譜技術，實現光譜 覆蓋范圍的擴展。這樣就能夠對跨 越很寬光譜范圍的光進行采集， 無需人為干預且不影響分辨率。例 如，inVia能夠在橫跨整個可見/近紅 外區間上，以一次性的連續采譜方 式得到一張高分辨光譜。

• 低波數性能 ：靠近激光線進行分析。 inVia支持多種瑞利濾光片，包 括那些您可以用來高效并輕松研究 低波數拉曼特征結構的濾光片。

• 高靈敏探測器 ：邊帶截止技術。 inVia顯微拉曼光譜儀使用雷尼紹 自己的超低噪聲、超高靈敏CCD相 機，這樣您可以在盡可能短的時間內獲得的實驗結果。如果您希望添 加更多探測器，則可為inVia配置多達 4個探測器，如電子倍增 (EM) 探測器 和InGaAs陣列。 

• 真正的共焦性能 ：精確地按照您的需要配置。達到盡可能高的空間分辨率， 僅受固有光衍射極限限制。inVia顯微拉曼光譜儀的EasyConfocal光學系統提供真正的高空間分辨的共焦能力，不影響易用性、穩定性以及光學效率。從亞微米高分辨測量到塊狀樣品的大尺度平均測量，都可實現輕松切換。

• 高性能顯微鏡 ：徠卡顯微鏡 — 優質、高效、可靠 。徠卡顯微系統的研究級顯微鏡 是inVia的標配，可裝備高數值孔徑 的物鏡鏡頭，實現高空間分辨率。

• 擴大樣品觀察范圍 ：清楚地看見您的樣品 。雙筒目鏡，帶有兩個工作目鏡，不僅可以直接觀察 樣品，還提供一個開闊的視場。您看見的區域要比原來 大得多 — 并且當您移動樣品時可獲得即時反饋。 當inVia配備樣品臺時，比如雷尼紹的高速光柵尺 反饋平臺 (MS30)，它生成的樣品圖像的覆蓋區域要比 顯微鏡視場大得多。您可以使用該圖像輕松為隨后的數 據采集確定位置。 

• 多激光器 ：無論您的樣品種類是什么，均可獲得質的數據 。inVia具有各種直接耦合激光激發選項 — 從近紅外到 深紫外，確保您能夠根據需要調整儀器。例如，您可能希望 減小熒光或引起共振。inVia通常可配備兩或三個激光器 作為標配，但也可根據您的需要進行配置以使用更多的激 光器。優化的激光傳輸路徑確保您能夠從每個激光器獲得 結果。

• 生成高質量拉曼圖像 ：清晰的化學圖像 。inVia提供全面成像技術，使您能夠從點、線、面， 甚至體積采集數據。StreamLine™、StreamHR™和 True Raman Imaging™是雷尼紹無二的成像技 術，可生成高質量拉曼圖像。

• 全自動化 ：inVia易于使用和維護 。inVia的自動化省去了手動介入的需要。當您更換 關鍵部件時（例如濾光片、激光器和光柵），inVia將 自動重新配置其光學元件并優化其準直。這使得分析更加有效，非常適合有多個使用者的繁忙的實驗室。

• 實時保持聚焦狀態 ：樣品表面/界面追蹤技術 。采用LiveTrack™自動聚焦追蹤技術實時采集具有較大 高度變量的樣品的準確、可重復的光譜和形貌信息。無需 預掃描就能夠對凸凹不平、彎曲、粗糙的表面生成令人驚奇 的三維圖像。

• 采樣的靈活性 ：無論您的實驗需要什么，都能接近并控制您的樣品 。inVia可在單臺拉曼系統上提供各種配置和附件。 ? 各種物鏡鏡頭和環境樣品池可確保您在不同的環境條 件下分析樣品。 ? 對于太大而無法放置在標準顯微鏡下的樣品，靈活的 采樣臂使您可以將物鏡精確定位在所需位置。 ? inVia同樣支持研究級正置、倒置和開放框架顯微 鏡，以及用于長距離遠程分析的光纖探頭。

• 功能強大的軟件 ：采集、分析和顯示高質量拉曼數據 。雷尼紹的WiRE (Windows based Raman Environment) 軟件是專門為研究拉曼光譜而設計的。它可控制光譜的采 集并提供全套數據處理和分析功能。

• 通過聯用增強能力 ：配用AFM、SEM、CSLM... 。將拉曼的能力與其他分析技術結合，例如掃描探針顯 微鏡（AFM和TERS）、掃描電子顯微鏡 (SEM)，或者共焦 激光掃描顯微鏡 (CLSM)。inVia靈活的設計也使其能夠與 眾多其他專業技術聯用，包括同步輻射加速器上的X射線 衍射系統以及光束線上的中子衍射系統。

• 安全性 ：使用安全，不影響簡單性和易用性 。inVia配備齊全，包括激光安全互鎖裝置和可選樣品遮 光罩。提供3B類、4類或1類激光安全選項，具體取決于配 置和所用激光器。

• 拉曼偏振選件 ：分析樣品的對稱性和取向性 。可選的偏振附件可以控制激光和光譜儀的偏振方向 （偏振片/分析儀）。采用這一附件，您可以分析得到 晶體的取向（例如微晶），也可以分析得到液體樣品的 退偏比。

• 補充成像選項 ：生成補充圖像，實現深入了解 。inVia還可將光電流數據和瑞利散射光生成圖像。這 些圖像可指導和補充拉曼測量，幫助您快速完成樣品檢 視。光電流成像可提供半導體材料的電子信息。瑞利成像 非常適合在進行全面拉曼分析之前定位顆粒 — 例如微塑料顆粒和石墨烯薄片。