賽默飛世爾科技的Antaris™ II FT-NIR分析儀，便于實驗室開發出適用于工廠生產的分析方案和方法。Antaris II FT-NIR分析儀憑借著業內**的模型轉移性能，保證了旁線(at-line)，在線(online)，線內(in-line)的數據采集更佳穩定，可靠。您可以對 Antaris II FT-NIR 分析儀進行自定義用于特殊應用，也可以選擇 Antaris II MDS 方法建立采樣系統，它將傳輸、光纖和球面漫反射分析整合在一個轉鑰系統內。

性能特點

一臺儀器可同時集成透射、反射、漫透射、光纖探頭等檢測模塊，任何狀態的樣品均可以方便得到快速、精確的檢測分析
采用Nicolet的高光通量高速動態準直電磁式干涉儀
采用CaF2分束器，在近紅外光譜有效區域內具有更高的能量分布
各個分析模塊均采用對近紅外光靈敏度**的InGaAs檢測器
儀器與電腦間采用標準USB接口
Thermo Scientific™ ValPro™ 儀器資格認證軟件包可使儀器計量認證工作（DQ、IQ、OQ 和 PQ）變得更容易
結果的重現性與配置、維護、用戶或環境等因素無關
低使用和維護成本，適合實驗室或工廠使用，可進行快速、精確和準確測量

應用領域

固體
粉末
顆粒
片劑
半固體(醬、糊類)
凝膠
糖漿
薄膜
液體