品牌：Bruker德國 型號：D8 Advance
新D8A的特點：
儀器介紹
布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀，采用創造性的達芬奇設計，通過TWIN-TWIN光路設計，成功實現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換，而無需對光。通過革命性的TWIST TUBE技術，使用戶可以在1分鐘內完成從線光源應用（常規粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到點光源應用（織構、應力、微區）的切換，讓煩人的光路互換、重新對光等問題從此成為歷史！
高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內的每一個衍射峰（注意不是一個衍射峰）的測量峰位和標準峰位的誤差不超過0.01度，布魯克AXS公司提供保證！的林克斯陣列探測器可以提高強度150倍，不僅答復提高設備的使用效率， 而且大幅提高了設備的探測靈敏度。
技術指標：
發生器功率：3-18KW
最小步進角度：0.0001
重復性：0.0001
角度偏差：0.0001
Theta/theta立式測角儀
2Theta角度范圍：-110~168°
角度精度：0.0001度
Cr/Co/Cu靶，標準尺寸光管
探測器：林克斯陣列探測器、林克斯XE陣列探測器
儀器尺寸：1868x1300x1135mm
重量：770kg
功率：6.5kW
應用
物相定性分析 結晶度及非晶相含量分析
結構精修及解析 物相定量分析
點陣參數精確測量 無標樣定量分析
微觀應變分析 晶粒尺寸分析
原位分析 殘余應力
低角度介孔材料測量 織構及ODF分析
薄膜掠入射 薄膜反射率測量
小角散射
