日本電子場發射掃描電鏡JSM-7200F
JSM-7200F的主要特點有：應用了浸沒式肖特基電子槍技術的電子光學系統；
利用GB（Gentle Beam 模式）和各種檢測 器在低加速電壓下能進行高分辨觀
察和選擇信號的TTLS系統（Through-The-Lens System）；電磁場疊加的混
合式物鏡。
JSM-7200F的主要特點有：應用了浸沒式肖特基電子槍技術的電子光學系統；
利用GB（Gentle Beam 模式）和各種檢測 器在低加速電壓下能進行高分辨觀
察和選擇信號的TTLS系統（Through-The-Lens System）；電磁場疊加的混
合式物鏡。
浸沒式肖特基場發射電子槍為日本電子的技術，通過對電子槍和低像差聚光鏡進行優化，能有 效利用從電子槍中發射的電子，即使電子束流很大也能獲得很細的束斑。因而可以實現高通量分析（EDS、WDS面分析、EBSD分析等）。
TTLS（through-the-lens系統）是利用GB(Gentle Beam 模式）在低加速電壓下能進行高
分辨率觀察和信號選擇的系統。 利用GB（Gentle Beam 模式）通過給樣品加以偏壓，對入
射電子有減速、對樣品中發射出的電子有加速作用，即使在低加速電壓（入射電壓）下，也
能獲得信噪比良好的高分辨率圖像。
此外，利用安裝在TTLS的能 量過濾器過濾電壓，可以調節二次電子的檢測量。這樣在極低加
速電壓的條件下，用高位檢測 器（UED）就可以只獲取來自樣品淺表面的大角度背散射電子。
因過濾電壓用UED沒有檢測出的低能 量電子，可以用高位二次電子檢測 器（USD，選配件）檢
測出來，因此JSM-7200F能同時獲取二次電子像和背散射電子像。
JSM-7200F的物鏡采用了日本電子新開發的混合式透鏡。
這種混合式透鏡是組合了磁透鏡和靜電透鏡的電磁場疊加型物鏡，比傳統的out-lens像差小，能獲得更高的空間分辨率。 JSM-7200F仍然保持了out-lens的易用性，所以可以觀察和分析磁性材料樣品。
*您想獲取產品的資料：
個人信息：
