• 產品介紹

VIT測試系統外形圖

VIT型VIS-SWIR成像探測器測試系統是一個可擴展的用于測試硅成像探測器、黑硅成像探測器以及InGaAs 成像探測器的測試系統，支持成像探測器所有重要參數的測試。

VIT測試系統是一個模塊化的測試系統，由以下五個部分組成：雙圖像投影通道，一組圖像采集卡，及，測試軟件和可選的測試原始芯片用的CON控制模塊。雙圖像投影通道是VIT測試系統的核心模塊，包括輻射通道和成像通道。

VIT測試系統提供了一組傳統參數的測量，這些參數通常用于表征紅外焦平面/熱成像核心的性能。另外也提供成像傳感器和相機的EMVA1288標準推薦的性能參數測試。

一般測試功能：

1. 輻射參數：相對光譜靈敏度、比探測率D*、量子效率QE、靈敏度、動態范圍、線性度、NEI、FPN固定圖形噪聲、非均勻性、信噪比、壞像素數、3D噪聲?？梢詼y量16個不同波長下的情況。

2. 成像參數：調制傳遞函數MTF、分辨率、最小可分辨對比度、串擾、高光溢出Blooming、視場。

EMVA1288測試功能：量子效率，增益，時間暗噪聲，DSNU1288，信噪比，PRNU1288，LE非線性，靈敏度閾值，飽和容量，動態范圍，暗電流，相對光譜靈敏度。

• 產品參數

表1 用于定義VIT測試系統版本的兩位數編號

表2 產品詳細參數