如何直接測(cè)量植物葉片的葉面積指數(shù)直接測(cè)量法是指收集植株葉片，直接測(cè)量其面積或測(cè)量葉片質(zhì)量、形狀、長(zhǎng)寬等參數(shù)，再轉(zhuǎn)換為面積，或者是直接使用葉面積測(cè)量?jī)x及西寧對(duì)植物也面積的快速測(cè)定分析。

葉面積測(cè)量?jī)x與衛(wèi)星定位跟蹤法比較
如何直接測(cè)量植物葉片的葉面積指數(shù)直接測(cè)量法是指收集植株葉片，直接測(cè)量其面積或測(cè)量葉片質(zhì)量、形狀、長(zhǎng)寬等參數(shù)，再轉(zhuǎn)換為面積，或者是直接使用及西寧對(duì)植物也面積的快速測(cè)定分析。這是經(jīng)典的、成熟的LAI測(cè)量方法，具有zui高的測(cè)量精度。其測(cè)量值通常被稱為真實(shí)葉面積指數(shù)，是間接測(cè)定的重要對(duì)比方法。該方法包括葉片采集和測(cè)量2個(gè)步驟。葉片采集方法有落葉箱法、代表植株法、區(qū)域采樣法等；測(cè)量方法有格點(diǎn)法、方格法、描形稱重法以及掃描和攝影等儀器測(cè)定法。
由于直接測(cè)量對(duì)植物本身具有一定的破壞性，且必須人工采集葉片樣品，費(fèi)時(shí)耗力，采樣不一定具有代表性，一般只用作科研，故實(shí)際測(cè)量和研究中常采用間接測(cè)量法。間接測(cè)量法與直接測(cè)量法相比，間接測(cè)量法能夠更快、更大范圍地對(duì)LAI進(jìn)行測(cè)量，并且不對(duì)植物產(chǎn)生傷害，因此得到迅速發(fā)展和廣泛應(yīng)用，而的測(cè)定則是可以更加快速準(zhǔn)確的測(cè)定植物的葉面積變化。但是，采用這種方法得到的LAI往往偏低，不同類型的冠層低估范圍通常在25%～50%。雖然目前有許多方案能克服由于間接測(cè)量帶來(lái)的偏差，但并沒(méi)有根本地解決此類問(wèn)題的產(chǎn)生。該方法主要分為空間測(cè)量法和地面測(cè)量法兩類。空間測(cè)量法。空間測(cè)量法也稱遙感測(cè)量法，通過(guò)衛(wèi)星對(duì)植被和覆蓋物之間的反射光譜信息采集完成測(cè)量，為大范圍研究森林和陸地植被LAI提供有效的途徑。空間測(cè)量法分為統(tǒng)計(jì)模型法、物理模型法、神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型法3種。
葉面積測(cè)量?jī)x：