EPMA-1720島津電子探針電子探針（EPMA）是用極細的電子束對樣品表面進行照射產生特征X射線，對特征X射線進行分光和強度測定，得到微小區域的元素組成及樣品表面元素濃度分布的分析裝置

EPMA-1720 島津電子探針

電子探針（EPMA）是用極細的電子束對樣品表面進行照射產生特征X 射線，對特征X 射線進行分光和強度測定，得到微小區域的元素組成及樣品表面元素濃度分布的分析裝置。由于島津電子探針進行的是無損高精度分析，并且能夠提供替他儀器不能提供的信息，因此在高校及實驗室中大量使用，并從最初的金屬?半導體材料領域，逐步擴展到微粒?礦物?催化劑?生物組織的分析。鑒于電子探針分析能力的*性，市場對機型的需求也逐年增長。

特點：

??的空間分辨率

電子探針可達到的別的二次電子圖像分辨率3nm（加速電壓30kV），分析條件下的二次電子分辨率。

（加速電壓10kV時20nm@10nA/50nm@100nA/150nm@1μA）

? 大束流超高靈敏度分析

實現3.0μA（加速電壓30kV）的束流。可超高靈敏度進行超微量元素的面分析。并且全束流范圍無需更換物鏡光闌。

??高性能X射線譜儀

秉承島津電子探針頗具優勢的52.5°X射線取出角。采用4英寸羅蘭圓半徑的分光晶體兼顧高靈敏度與高分辨率。可同時搭載5通道高性能X射線譜儀。分析性能更勝。

? 全部分析操作簡單易懂

全部操作僅靠一個鼠標就可進行的可操作性。追求易懂的人性化用戶界面。搭載導航模式，自動指引直至生成報告。