XU-100X熒光光譜測厚儀高精尖檢測技術，搞定企業品質管控！XU-100光譜測厚儀采用下照式C型腔體設計，搭配微聚焦X射線發生器和高集成垂直光路系統，以及高敏變焦測距裝置，對各種大小異形件都可快速、精準、無損測量

XU-100 X熒光光譜測厚儀

高精尖檢測技術，搞定企業品質管控！

XU-100光譜測厚儀采用下照式C型腔體設計，搭配微聚焦X射線發生器和高集成垂直光路系統，以及高敏變焦測距裝置，對各種大小異形件都可快速、精準、無損測量。
檢測各種金屬鍍層，檢出限可達0.005μm，最小測量面積0.2mm²，凹槽深度測量范圍可達0-30mm，是一款測量鍍層厚度性價比高、適用性強的機型。

應用行業：

電鍍層分析

緊固件行業

五金行業

汽車零部件

配飾厚度分析

電子元器件

……

常見樣品：

緊固件
ZnAl/Fe、Zn/Fe、ZnNi/Fe

五金制品
Sn/Cu/Fe、Ni/Cu、Ni/Cu/Fe

電子元器件
Sn/Ni/Fe、Au/Ni/Cu、Ag/Cu


汽車零部件Zn/Fe、ZnNi/Fe、ZnAl/Fe、Cr/Ni/Cu/ABS


配飾首飾
Au/Pd/925Ag、Rh/Pd/Cu、18KAu/Pd/Cu

散熱片NiP/Al

……

為什么選擇XU-100？

1.下照式設計


可以快速方便地定位對焦樣品。


2.高精密微型移動滑軌

快速精準定位樣品。

3.
微焦X射線裝置


最小檢測面積可達0.2mm²的樣品，可進行各類電鍍層膜厚檢測。


高效率正比接收器即使測試0.2mm²的樣品，幾秒鐘也能達到穩定性。

4.
變焦裝置算法


可對各種異形凹槽進行檢測，凹槽深度測量范圍可達0-30mm。


5.的EFP算法


多層多元素，包括有同種元素在不同涂鍍層的檢測，都可以快、準、穩的做出數據分析。