自感應(yīng)探針原子力顯微鏡(研究型)

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具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

促銷時間：

特價說明：

促銷詳細(xì)：

2020年01月08日至 2020年02月08日

特價促銷

模內(nèi)澆口分離自動化，降低對人的依賴度；傳統(tǒng)的塑膠模具開模后產(chǎn)品與澆口相連，需二道工序進(jìn)行人工剪切分離，模內(nèi)熱切模具將澆口分離提前至開模前，消除后續(xù)工序，有利于生產(chǎn)自動化，降低對人的依賴。

產(chǎn)品型號：WinSPM R? 采用壓電自感應(yīng)探針? 測量環(huán)境無激光干擾? 可安裝短工作距離物鏡? 研究特質(zhì)、

產(chǎn)品簡介：

可采用多種壓電自感應(yīng)探針的原子力顯微鏡（AFM），研究特質(zhì)、。實現(xiàn)形貌成像分析和譜曲線測量功能，測試環(huán)境免激光干擾，適合與光譜儀器聯(lián)用。

儀器特點

Akiyama探針

WinSPM探針

主要技術(shù)參數(shù)

一鍵式快速自動進(jìn)樣，行程23mm，最小步距10nm。
手動樣品調(diào)節(jié)二維臺，調(diào)節(jié)范圍±8.0mm。
樣品尺寸的直徑20mm，厚度20mm。
標(biāo)配管型掃描器，掃描范圍約為20μm×20μm×5μm。
可配平面閉環(huán)型掃描器，掃描范圍約為30μm×30μm×9μm，閉環(huán)分辨率約1.5nm。
樣品逐行掃描成像，掃描成像速率0.1-30行/秒。
一次掃描多幅圖像，圖像分辨高達(dá)2048×2048物理象素。
自感應(yīng)探針采用頻率調(diào)制方式，數(shù)字化PID反饋控制的響應(yīng)時間為10μs。
嵌入式測控系統(tǒng)采用主頻為450MHz的雙核處理器（ARM + DSP），內(nèi)置數(shù)?；旌辖Y(jié)構(gòu)的鎖相放大器，與上位機連接采用以太網(wǎng)TCP/IP通訊協(xié)議。
聯(lián)用光學(xué)物鏡的最短工作距離僅需9.5毫米，能夠安裝放大倍數(shù)為100X的光學(xué)物鏡。

標(biāo)準(zhǔn)配置：

A型探針架

（WinSPM A-Probe）

D型探針架

（WinSPM D-Probe）

選配模塊：

與光譜儀聯(lián)用模塊，包含：光學(xué)物鏡及其位置調(diào)節(jié)平臺（調(diào)節(jié)范圍±5.5mm）、與光譜儀的光路適配、聯(lián)用測控所需的硬件與軟件
掃描隧道顯微鏡（STM）模塊，包括：掃描隧道顯微鏡的硬件與軟件、WinSPM T-Probe探針架
納米加工模塊，包括：圖形化納米加工、機械刻蝕、矢量掃描等功能
輔助觀察光學(xué)顯微鏡系統(tǒng)：物鏡倍數(shù)：0.7X～4.5X；總放大倍數(shù)：42-266X連續(xù)可調(diào)（14”有效顯示面積）；工作距離：115mm
管型掃描器模塊：掃描范圍有8μm、20/30μm和100μm共3種規(guī)格
平面閉環(huán)掃描器：掃描范圍為30μm×30μm×9μm，閉環(huán)分辨率約1.5nm，垂直方向的諧振頻率約40kHz

應(yīng)用領(lǐng)域及實驗

實驗一：在無環(huán)境光干擾的條件下研究材料表面的形貌等物性，典型的應(yīng)用領(lǐng)域包括：納米材料研究、光電/發(fā)光材料及器件、二維材料及器件、集成電路檢測。
實驗二：納米微區(qū)的力學(xué)測量與分析，典型應(yīng)用包括：力梯度-距離曲線、納米力學(xué)實驗研究、納米臺階或液膜厚度的測量分析，納米尺度粘彈物性的測量分析。
實驗三：與光譜儀器的聯(lián)用，如與拉曼光譜聯(lián)用可原位測得納米微區(qū)的拉曼光譜，或開展針尖增強拉曼光譜（TERS）實驗研究。（需增配與光譜儀聯(lián)用模塊）
實驗四：掃描隧道顯微鏡（STM）應(yīng)用，包括形貌成像和隧道譜。（需增配STM模塊）
實驗五：納米加工實驗，如圖形化納米刻蝕實驗研究。（需增配納米加工模塊）
實驗六：其它基于導(dǎo)電針尖的原子力顯微鏡應(yīng)用領(lǐng)域及實驗，包括：導(dǎo)電原子力顯微鏡（C-AFM）、靜電力顯微鏡（EFM）、開爾文探針力顯微鏡（KPFM）等。（需增配或定制相應(yīng)的功能模塊）。