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奧林巴斯清潔度檢測儀 CIX100

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奧林巴斯CIX100檢測系統是一個專門的交鑰匙解決方案，適用于對所制造部件清潔度保持高質量標準要求的制造商

詳細信息 在線詢價

奧林巴斯CIX100檢測系統是一個專門的交鑰匙解決方案，適用于對所制造部件清潔度保持高質量標準要求的制造商。快速獲取、處理和記錄技術清潔度檢測數據，以符合公司和國際標準的要求。該系統直觀的軟件可指導用戶完成該過程的每個步驟，因此，即使是新手操作員，也可以快速輕松地獲取清潔度數據。


奧林巴斯CIX100檢測系統：簡化技術清潔度

保證部件、工件和流體具有合格的清潔度是制造過程的核心所在。在對大多為微米級尺寸的污染物和異物進行計數、分析和分類的過程中達到高標準，對于最終產品的開發、制造、生產和質量控制等各種工作流程都至關重要。各種國際和國家指令對于如何確定基本加工零件上顆粒污染的方法和記錄要求都有描述，因為顆粒污染會直接影響工件和部件的使用壽命。目前的標準要求提供有關污染性質的詳細信息，如顆粒的數量、粒度分布和顆粒特性。

奧林巴斯CIX100清潔度檢測系統旨在滿足現代工業以及國家和國際指令對清潔度的要求。

標準的清潔度檢測流程：準備（第1-3步）和檢測（第4-6步）。第1步：提取，第2步：過濾，第3步：稱重，第4步：檢測，第5步：審核，第6步：結果。



簡單、可靠

硬件和軟件無縫集成，打造出一款可以提供可靠、準確數據的耐用型高效率系統。

易于設置的自動化、交鑰匙解決方案

穩定的測量系統設置有利于提供可重復的結果

的光學性能和可再現的成像條件

自動化系統通過集成的校準裝置進行自檢

全系統集成，實現所有硬件部件的自動化控制

支持各種圓形和矩形樣品架


通過直觀的指導提高生產力

專用、簡單的工作流程可z大限度地減少用戶操作，并提供可靠的數據 - 與操作員和經驗水平無關

借助便于使用的工具輕松修改檢測數據

分步指導可提高生產率，并縮短檢測時間

用戶權限管理可限制功能，以盡量減少人為錯誤

觸摸屏顯示大尺寸按鈕，容易點擊

符合要求的一鍵式報告，實現高效的文件記錄

所有數據均自動保存，并可輕松導出和共享

采用可選材料分析解決方案的獨立顯微鏡模式

快速實時分析

創新的一體化掃描解決方案檢測反光（金屬）和非反光顆粒的速度是需要兩幅獨立圖像的傳統方法的兩倍。即時反饋顆粒計數和顆粒分類的信息可幫助您快速做出決策。

用于快速識別濾膜范圍、顆粒簇或最差粒子的概覽圖像

對2.5 µm至42 mm范圍內的污染物顆粒進行自動實時處理和分類

高效：系統在一次掃描中檢測反光和非反光顆粒

實時分析使您能對結果做出實時反應

可根據選定的行業標準定制符合要求的結果

有效的數據評估

借助強大的、易于使用的工具修改檢測數據，支持公司和國際清潔度檢測標準。清晰呈現所有相關的檢測結果，節省時間。

圖像和數據的有組織排列，使數據審核效率更高

可選擇各種視圖，立即識別顆粒

顆粒位置和縮略圖鏈接到實時圖像

輕松地對檢測數據進行重新分類、審核、修改和重新計算

實時顯示整體清潔度代碼、顆粒和分類表

趨勢分析，以確定隨時間推移而出現的潛在的測量偏差

在一個視圖中顯示完整的檢測數據


創建合規報告

一鍵式報告制作方式符合國際標準中闡述的要求和方法。報告可以定制（例如，包括顆粒形態），從而可輕松滿足不同公司的特定標準。

使用預定義的合規模板生成專業報告

可輕松調整模板和報告，以滿足行業和公司的規定

支持各種輸出格式，包括MS Word和PDF

報告文件大小經過優化，輕松進行結果共享

長期數據存儲，使您可以在多年后證明決策的合理性


硬件

顯微鏡奧林巴斯CIX100電動聚焦

  • 同軸電動精細聚焦，使用3軸操縱桿

  • 聚焦行程：25 mm

  • 精細行程：100 µm/周

  • 載物臺托架的安裝高度：40 mm

  • 聚焦速度：200 µm/s

  • 可啟用軟件自動聚焦功能

  • 自定義的多點聚焦圖

照明

  • 內置LED照明燈

  • 創新型照明機制，可同時探測到反光顆粒和非反光顆粒

  • 光照強度可由軟件控制

成像設備

  • 彩色CMOS USB 3.0攝像頭

  • 芯片上的像素尺寸為2.2 µm × 2.2 µm

樣品量

  • ? 標準樣品是一個直徑為47 mm的濾膜。可為直徑為25 mm或55 mm的濾膜提供托架，還可提供定制樣品托架。

物鏡轉換器電動式電動物鏡轉換器

  • 6孔電動物鏡轉盤，已安裝了3個UIS2物鏡

  • PLAPON 1.25X，用于預覽

  • MPLFLN 5X，用于探測大于10 µm的顆粒

  • MPLFLN 10X，用于探測大于2.5 µm的顆粒

由軟件控制

  • 圖像放大倍率，以及像素與尺寸之間的關系可清晰顯示

  • 測量時可選定物鏡，軟件可自動進行物鏡定位

載物臺電動X、Y軸載物臺電動X、Y軸載物臺

  • 步進電機控制運動

  • 范圍：130 × 79 mm

  • 移動速度：240 mm/s（4 mm滾珠螺距）

  • 可重復性：< 1 µm

  • 分辨率：0.01 µm

  • 可通過3軸操縱桿控制

由軟件控制

  • 掃描速度取決于所使用的放大倍率，使用10x放大倍率時，掃描時間不到10分鐘

  • 載物臺對齊校準由工廠在裝配時完成。

標本架樣品架

  • 濾膜托架經過專門設計，可避免在安裝過程中濾膜發生意外轉動

  • 濾膜托架通過機械方式將濾膜壓平

  • 無需工具即可固定蓋子

  • 用于直徑為25 mm、47 mm和55 mm的濾膜的樣品托架

  • 用于顆粒捕集器、顆粒捕集器耗材和膠帶提取法采樣的樣品托架

顆粒物標準片（PSD）

  • 用于驗證系統測量準確性的參考樣品

  • 核查系統內置功能的樣品，用于對CIX系統的正常功能進行控制

  • PSD只能使用載物臺上的第2個插槽

載物臺插槽2位載物臺插槽

  • 載物臺插槽專用于正確定位樣品托架和PSD

控制器工作站高性能預安裝工作站

  • HP Z4G4，Windows 10-64位專業版（英文版）

  • 16 GB RAM、256 GB SSD和4 TB數據存儲

  • 2 GB視頻適配器

  • 已安裝Microsoft Office 2019（英文版）

  • 網絡功能、英文全鍵盤、1000 dpi的光電鼠標

插件板

  • 電動控制器、RS232串行和USB 3.0

語言選擇

  • 操作系統和Microsoft Office的默認語言可由用戶更改

觸摸顯示屏23英寸纖薄屏幕

  • 分辨率：11920 × 1080，為配合CIX軟件使用而優化

電源額定值

  • AC適配器（2個）、控制器和顯微鏡架（需要4個插頭）

  • 輸入：100-240V AC 50/60Hz，10 A

功耗

  • 控制器：700 W；顯示器：56 W；顯微鏡：5.8 W；控制盒：7.4 W

  • 總計：769.2 W

圖紙尺寸（寬 × 厚 × 高）約1300 mm × 800 mm × 510 mm
重量44 kg


系統對環境的要求


常規使用溫度10 °C ～ 35 °C
濕度30% ～ 80%
根據安全法規環境室內使用
溫度5 ℃至40 ℃
濕度

  • 80%（溫度不高于31 °C時）
    （無冷凝）

  • 當溫度上升到31 °C以上時，適用的濕度會呈線性下降

  • 70%（34 °C）至60%（37 °C）至50%（40 °C）

海拔高度2,000米
水平度為±2°
電源和電壓穩定性±10%
污染等級（IEC60664）2
總體電壓類別（IEC60664）II類


軟件


軟件CIX-ASW-V1.5

  • 技術清潔度檢測的專用工作流程軟件

語言圖形用戶界面

  • 圖形用戶界面：英語、法語、德語、西班牙語、日語、簡體中文和韓語

在線幫助

  • 在線幫助：英語、法語、德語、西班牙語、日語、簡體中文和韓語

許可證管理

  • 軟件許可證通過許可證卡片激活（安裝時已激活）

用戶管理

  • 系統可以連接到網絡進行域管理

  • 可用功能范圍根據經過身份驗證的用戶而選擇。

實時圖像以彩色模式顯示

  • 金屬顆粒用藍色分析，非金屬顆粒用原色分析。

窗口適應法

  • 圖像總是以全視圖形式顯示

實時探測

  • 顆粒一經捕獲就會探測出來，以提高速度

  • 如果測量結果不理想，用戶可以中止探測過程。

實時分類

  • 探測到顆粒后，立即對顆粒進行分類。

  • 在實時采集過程中，可在用戶界面上識別顆粒所屬的大小等級。

顯微鏡模式

  • 可以進入顯微鏡模式進行顯微成像。

  • 提供可選配的材料分析解決方案（不是標配）。

圖像捕獲和手動測量收集用戶快照

  • 不僅可在實時觀察模式下（從實時圖像）或樣品查看模式下（從記錄的數據）捕獲圖像，也可以在審核模式下，捕獲樣品上任何位置的單個圖像

  • 可使用1000 × 1000像素的標準分辨率，將圖像存儲為.tif、.jpg或.png文件

  • 快照可以與探測到的顆粒相關聯，并在之后的分析報告中使用

  • 顆粒快照可以在景深擴展成像（EFI）模式下自動獲取

  • 在EFI模式下獲取的圖像可用在分析報告中

手動測量

  • 可以在獲得的快照上對任意距離進行測量

  • 可為任意測量項目重新命名，可以對顏色進行重新著色

  • 任意測量值和刻度線在存儲時都會被刻錄在圖像中

硬件控制XY電動載物臺

  • 操縱桿操作和由軟件控制

  • 檢測圓形和矩形的樣品區域

  • 在所選顆粒上以自動或手動方式重新定位

電動物鏡轉換器

  • 僅可通過軟件選擇

電動聚焦

  • 通過操縱桿控制

  • 提供軟件自動聚焦功能

  • 使用多點聚焦圖進行預測性自動對焦

檢查系統系統驗證

  • 通過測量顆粒物標準片的參數對系統進行驗證。

  • 生成OK（合格）或NOK（不合格）的質量判定結果

可選物鏡

  • 對系統的檢查只能使用工作物鏡完成（至少應選擇一個物鏡）

  • 可以使用5X或10X物鏡，或使用這兩種物鏡對系統進行檢查

技術清潔度標準支持標準

  • ASTM E1216-11:2016、ISO 4406:2021、ISO 4407:1999、ISO 4407:2002 [累積和差分]、ISO 11218:1993、ISO 12345:2013、ISO 14952:2003、ISO 16232-10:2007（A、N和V）、ISO 16232:2018（A、N和V）、ISO 21018:2008、DIN 51455:2015 [70%和85%]、NAS 1638:1964、NF E 48-651:1986、NF E 48-655:1989、SAE AS4059:2011、VDA 19.1:2015（A、N和V）、VDA 19.2:2015、VDI 2083-21

精確符合VDA19:2016的建議

  • 閾值自動設置為VDA建議使用的值

顆粒種類識別

  • 顆粒可按顆粒種類分類（纖維、反光、反光纖維或其他）

自定義標準

  • 用戶可以非常容易地自行定義標準

  • 根據DT 55-83，顆粒測量參數包括絲狀粒徑和致密粒徑

檢測配置

  • 該系統可使用戶加載、定義、復制、重命名、刪除和保存檢測配置

  • 還可以存儲和調用標準和報告模板

  • 可以反轉探測閾值，以探測到暗背景上的亮顆粒

  • 可以在一個序列中采集多個樣品

  • 每個樣品都可以使用特定的配置進行檢測

顆粒平鋪視圖以平鋪形式顯示探測到的顆粒，提高了導航效率

  • 雙擊平鋪視圖可以檢索每個顆粒的位置

  • 每個平鋪視窗都與實際顆粒大小相適應

保存完整的濾膜存儲完整的濾膜

  • 離線分析可使用戶選擇不同的標準來顯示結果

數據導出保存數據

  • 檢測數據可被導出到Excel（.xlsx）表格中

  • 軟件中所有可用的表格也可以導出到Excel中

趨勢分析多個樣品的趨勢分析（內置SQC工具）

  • 可以按大小等級顯示數據

  • 可以按時間、樣品、測量ID將數據繪制成圖

  • 可以選擇比例（對數-正態，對數-對數）

  • 數據點可被提取并導出到電子數據表格中

  • 可以使用Q-DAS（.dfq）格式導出表格；軟件中的所有表格也可以導出到Excel中

顆粒編輯可在修改過程中對顆粒進行編輯。可進行以下操作：

  • 使用直線或折線添加、刪除、合并或拆分顆粒

  • 更改顆粒類型

動態報告可通過使用Microsoft Word 2019制作專業分析報告

  • 模板是可自定義的

  • 用戶在選擇不同的顆粒種類時，可以選擇將圖片放在表格后面，或者將所有圖片放在一起


可選配解決方案CIX-S-HM


高度測量對選定顆粒進行自動或手動高度測量

  • 可選配的軟件解決方案，可以使電動聚焦驅動功能對所選顆粒自上到下自動聚焦。然后通過計算顆粒在Z軸上頂部和底部相差的距離得出顆粒的高度。

  • 包含1個附加物鏡（20X MPLFLN）和一個需要在安裝時激活的許可證卡片。

  • 可以在多個位置選擇多個顆粒進行自動高度測量。


環境法律和法規


歐洲低電壓指令2014/35/EU
EMC指令2014/30/EU
RoHS指令2011/65/EU
REACH法規，編號1907/2006
包裝和包裝廢棄物指令94/62/EC
歐盟WEEE指令2012/19/EU
機械指令2006/42/EC
美國UL 61010-1:2010，第3版
FCC 47 CFR，第15部分，分項B
加拿大CAN/CSA-C22.2（No.61010-1-12）
澳大利亞1992年無線電通信法、1997年電信法
節能條例AS/NZS 4665-2005
日本電器和材料安全法（PSE）
韓國電器安全控制法
關于能效標簽和標準的條例
關于EMC和無線通信的條例（第2913-5號通知）
中國中國RoHS
中國PL法
有關手冊的條例




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