如果你想獲得好的結(jié)果,穩(wěn)定性是的。欣賞 Axio Imager 2 穩(wěn)定的成像條件,尤其是在使用高放大倍率或執(zhí)行時(shí)間依賴性研究時(shí)。由于 Axio Imager 2 的機(jī)動(dòng)化,可在始終在恒定條件下工作的同時(shí)實(shí)現(xiàn)快速且可重復(fù)的結(jié)果。
用于材料研究的蔡司 Axio Imager 2
用于自動(dòng)材料分析的開(kāi)放式顯微鏡系統(tǒng)
當(dāng)您進(jìn)行高級(jí)材料研究時(shí),請(qǐng)?jiān)诠鈱W(xué)顯微鏡工作流程中引入易用性。使用 ZEISS Axio Imager 2 獲得材料的準(zhǔn)確且可重復(fù)的結(jié)果,讓您受益匪淺。選擇適合您的應(yīng)用的系統(tǒng)。通過(guò)顆粒分析、共焦或相關(guān)顯微鏡等專用解決方案擴(kuò)展您的儀器。
- 可重復(fù)的結(jié)果
- 模塊化設(shè)計(jì)
模塊化設(shè)計(jì)
獲得增強(qiáng)的靈活性
無(wú)論是在學(xué)術(shù)研究還是工業(yè)研究中,材料顯微鏡都面臨著各種挑戰(zhàn)。借助 Axio Imager 2,您將能夠應(yīng)對(duì)并贏得這些挑戰(zhàn)。連接特定于應(yīng)用的組件并執(zhí)行例如顆粒分析。研究非金屬夾雜物 (NMI)、液晶或基于半導(dǎo)體的 MEM。通過(guò)共焦或相關(guān)顯微鏡專用解決方案擴(kuò)展您的儀器。
高光學(xué)性能
實(shí)現(xiàn)出色的對(duì)比度和分辨率
- 使用不同的對(duì)比技術(shù)檢查一系列材料,例如金屬、復(fù)合材料或液晶。
- 使用反射光并在明場(chǎng)、暗場(chǎng)、微分干涉襯度 (DIC)、圓微分干涉襯度 (C-DIC)、偏振或熒光下觀察樣品。
- 使用透射光并在明場(chǎng)、暗場(chǎng)、微分干涉襯度 (DIC)、偏振或圓偏振下檢查樣品。對(duì)比度管理器確保可重復(fù)的照明設(shè)置。