用于12精密的觀察和復檢系統LeicaDM12000M徠卡DM12000M全新的光學設計,可以提供宏觀模式快速初檢,以及傾斜紫外光路功能(OUV,傾斜紫外觀察模式)不單提升了分辨率還提高了檢查12英寸(300毫米)硅片的產能
視野擴大四倍以上 使您可以比傳統掃描物鏡多看四倍以上的視野。 | 極限分辨率 全新的傾斜紫外模式 (OUV) 在紫外光基礎上結合了傾斜 光設計理念,確保您可以從任何角度都得到可見物理 光學的極限分辨率。 |
人機工程學設計 非常適合 長時間在顯微鏡上工作。 | LED 照明 內置一體化的 LED照明 達到了的空氣環流. 長壽命和低能耗的LED特性同樣為用戶節省了大量成本。 |
*您想獲取產品的資料:
個人信息: