MeizsXP-400偏光顯微鏡又稱礦相顯微鏡是利用光的偏振特性對具有雙折射性物質進行研究鑒定的儀器,礦相顯微鏡可供廣大用戶進行透射單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察

Meizs XP-400偏光顯微鏡又稱礦相顯微鏡是利用光的偏振特性對具有雙折射性物質進行研究鑒定的儀器, 礦相顯微鏡可供廣大用戶進行透射單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察。礦相偏光顯微鏡配置有石膏λ、云母λ/4試片、配置了石英楔子和移動尺等附件可用于對化工化纖、半導體工業以及高分子觀察。偏光顯微鏡被廣泛的應用在地質、化工、材料、研發領域的研究與檢驗，同時可應用于液態高分子材料顯微觀察，生物聚合物以及液晶材料的晶相觀察，是科研機構與高等院校進行研究與教學的理想顯微設備。
二、礦相顯微鏡性能特點
▲ 儀器使用模塊化功能設計，使用無限遠光學系統。
▲ 配置無限遠無應力長工作距離平場消色差物鏡。
▲ 廣角平場目鏡：視場范圍Ф18mm。
▲ 調焦機構采用粗微動同軸設計，粗動松緊可調，帶限位鎖緊裝置，微動格值:2μm。
▲ 起偏裝置為可拆卸式， 偏振方向可360°旋轉，有0、90、180、270四個檔位，置于孔徑光欄下方
▲ 檢偏裝置為推進式，偏振方向可360°旋轉，光路可方便移出
▲ 旋轉式載物臺，360°等分刻度,游標格值6'，中心可調，帶鎖緊裝置。
▲ 寬電壓電源(85-265V 50/60Hz). 鹵素燈照明（6V20W），亮度可調。

▲ 視頻鏡筒可自由切換目視觀察與顯微攝影，攝影時可99%通光，方便低亮度顯微圖像拍攝。