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X-4P偏光高倍顯微熔點儀

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X-4P偏光高倍顯微熔點儀用途測定物質的熔點

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X-4P偏光高倍顯微熔點儀

用途

測定物質的熔點。主要用于液晶、藥物、化工、紡織、塑料粒子、染料、香料等晶體有機化合物的測定及顯微觀察;尤其適用于礦物藥或淀粉等帶偏光特性物質的觀察,在測定物質熔點的同時,可以看到物質偏光特性的變化過程在醫學、化工、合成纖維、生物學、礦物學、學等領域均有廣泛的應用。

特點

多用性  既可作為微量樣品(毛細管法)的熔點測定,切片樣品的熔點測定,又可進行生物工程的熱力學研究(載玻片—蓋玻片,熱臺法);

偏光裝置  可觀察物質偏光特性,為藥物或淀粉類特別設計 

高倍觀察 放大倍數40倍、100倍、200倍;三個倍數可切換使用。

專用攝像通道  X-4P配置三目顯微觀察筒,選購顯微成像系統,可在不影響目視觀察的情況下,同時在電視機或顯示器上顯示圖像。

保溫罩設計  減少了環境對測試結果的影響

技術參數

 

X-4P

物鏡

4X10X20X

目鏡

WF10X

光學放大倍數

40X100X200X

顯微鏡頭部

三目頭部(方便與計算機或顯示器連接成像)

溫度顯示

最小示值0.1

熔點測量范圍

室溫至320

測量重復性

±1(小于200時);±2200320時)

選購件

物鏡

40X

目鏡

WF16XWF20X

成像系統

模擬成像系統、數字成像系統

顯示屏

5寸顯示屏、10寸顯示屏


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